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In: International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224), 2001, S. 1KonferenzZugriff:
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In: International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224), 2001, S. 1KonferenzZugriff:
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First 80 nm SON (Silicon-On-Nothing) MOSFETs with perfect morphology and high electrical performanceIn: International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224), 2001, S. 1KonferenzZugriff: