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    A current based self-test methodology for RF front-end circuits
    GOPALAN, Anand ; MARGALA, Martin ; et al.
    In: International mixed-signals testing workshop, Jg. 36 (2005), Heft 12, S. 1091-1102
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Test of a switched-capacitor ADC by a built-in charge sensor
    MOZUELOS, R ; LECHUGA, Y ; et al.
    In: International mixed-signals testing workshop, Jg. 36 (2005), Heft 12, S. 1064-1072
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A low-cost digital frequency testing approach for mixed-signal devices using ΣΔ modulation
    PRENAT, Guillaume ; MIR, Salvador ; et al.
    In: International mixed-signals testing workshop, Jg. 36 (2005), Heft 12, S. 1080-1090
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -