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    Neutron-Induced Failure Dependence on Reverse Gate Voltage for SiC Power MOSFETs in Atmospheric Environment
    Niskanen, K. ; Germanicus, Rosine Coq ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Neutron-Induced Failure Dependence on Reverse Gate Voltage for SiC Power MOSFETs in Atmospheric Environment
    Niskanen, K. ; Germanicus, Rosine Coq ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Neutron-Induced Failure Dependence on Reverse Gate Voltage for SiC Power MOSFETs in Atmospheric Environment
    Niskanen, K. ; Germanicus, Rosine Coq ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Electrical Stress and Neutron Irradiation on Reliability of Silicon Carbide Power MOSFET
    Niskanen, K. ; Touboul, A. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Electrical Stress and Neutron Irradiation on Reliability of Silicon Carbide Power MOSFET
    Niskanen, K. ; Touboul, A. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Electrical Stress and Neutron Irradiation on Reliability of Silicon Carbide Power MOSFET
    Niskanen, K. ; Touboul, A. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    New Approach for the Prediction of CCD Dark Current Distribution in a Space Radiation Environment
    Gilard, Olivier ; Boutillier, Mathieu ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    New Approach for the Prediction of CCD Dark Current Distribution in a Space Radiation Environment
    Gilard, Olivier ; Boutillier, Mathieu ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Hardening of a radiation sensor based on optically stimulated luminescence
    Vaillé, J. R. ; Ducret, S. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Hardening of a radiation sensor based on optically stimulated luminescence
    Vaillé, J. R. ; Ducret, S. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Hardening of a radiation sensor based on optically stimulated luminescence
    Vaillé, J. R. ; Ducret, S. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of the proton-induced permanent degradation in an optocoupler
    Germanicus, Rosine Coq ; Dusseau, L. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2002
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation and prediction of the degradation of a COTS CCD induced by displacement damage
    Germanicus, Rosine Coq ; Barde, S. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2002
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of the proton-induced permanent degradation in an optocoupler
    Germanicus, Rosine Coq ; Dusseau, L. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2002
    academicJournal
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    Evaluation and prediction of the degradation of a COTS CCD induced by displacement damage
    Germanicus, Rosine Coq ; Barde, S. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2002
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    High-energy particle irradiation of optically stimulated luminescent films at CERN
    Dusseau, L. ; Polge, G. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2001
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    High-energy particle irradiation of optically stimulated luminescent films at CERN
    Dusseau, L. ; Polge, G. ; et al.
    In: ISSN: 0018-9499, 2001
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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