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    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    del Moral, Alberto ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    del Moral, Alberto ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO$_2$/Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    von Borany, Johannes ; Engelmann, Hans-Juergen ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO$_2$/Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    von Borany, Johannes ; Engelmann, Hans-Juergen ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Physics and performance of nanoscale semiconductor devices at cryogenic temperatures
    Balestra, F. ; Ghibaudo, G. ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Physics and performance of nanoscale semiconductor devices at cryogenic temperatures
    Balestra, F. ; Ghibaudo, G. ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Physics and performance of nanoscale semiconductor devices at cryogenic temperatures
    Balestra, F. ; Ghibaudo, G. ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Phase-change materials for non-volatile memory devices: from technological challenges to materials science issues
    Noé, Pierre ; Vallée, Christophe ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2018
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
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    An analytical solution for McIntyre’s model of avalanche triggering probability for SPAD compact modeling and performance exploration
    Chaves de Albuquerque, Tulio ; Issartel, Dylan ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    X-band and K-band low-phase-noise VCOs using SiGe BiCMOS technology
    Tartarin, Jean-Guy ; Wong, K.W., W ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2006
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    X-band and K-band low-phase-noise VCOs using SiGe BiCMOS technology
    Tartarin, Jean-Guy ; Wong, K.W., W ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2006
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Multi sub-band Monte Carlo simulation of an ultra-thin double gate MOSFET with 2D electron gas
    Saint-Martin, Jérôme ; Bournel, A. ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2006
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Multi sub-band Monte Carlo simulation of an ultra-thin double gate MOSFET with 2D electron gas
    Saint-Martin, Jérôme ; Bournel, A. ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2006
    Online academicJournal
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    Volltext
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