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    Temperature measurement of sub-micrometric ICs by scanning thermal microscopy
    Gomès, Séverine ; Chapuis, Pierre-Olivier ; et al.
    In: ISSN: 1521-3331 ; IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies ; https://hal.science/hal-00192611 ; IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 2007, 30 (3), pp.424-431. ⟨10.1109/TCAPT.2007.901748⟩, 2007
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    In: ISSN: 1521-3331 ; IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies ; https://hal.science/hal-00192611 ; IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 2007, 30 (3), pp.424-431. ⟨10.1109/TCAPT.2007.901748⟩, 2007
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -