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    Strain investigation of PECVD passivation layer for ferroelectric domain wall random access memory.
    Hu, Xiaobing ; Chen, Hao ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 960 (2023-10-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    High-quality patterning technique for polarization-enhanced (Ba0.67Sr0.33TiO3/LaNiO3)n multi-interface multilayer hetero-structure.
    Wang, Zhi ; Chen, Xiaoyang ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 788 (2019-06-05), S. 712-718
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Magnetoelectric effect in free-standing multiferroic thin film.
    Meenachisundaram, Sridevi ; Mori, Hironori ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 787 (2019-05-30), S. 1128-1135
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Substrate-dependent ferroelectric and dielectric properties of Mn doped Na0.5Bi0.5TiO3 thin films derived by chemical solution decomposition.
    Feng, C. ; Yang, C.H. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 679 (2016-09-15), S. 133-137
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Structural, dielectric, ferroelectric and optical properties of PBCT, PBST and PCST complex thin films on LaNiO<subscript>3</subscript> metallic conductive oxide layer coated Si substrates by the CSD technique.
    Pontes, D.S.L. ; Chiquito, A.J. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 609 (2014-10-05), S. 33-39
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Giant negative electrocaloric effect in antiferroelectric La-modified PbZrO3 thin films within wide temperature range.
    Geng, Wenping ; Zheng, Dongwan ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 886 (2021-12-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Electric-field control of magnetization reversal at room temperature in SmFeO3 single-phase multiferroic thin film.
    Zhang, J. ; Ma, J.C.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 934 (2023-02-10), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A simple, low-temperature fabrication method of highly (100)-oriented (Na0.85K0.15)0.5Bi0.5TiO3 thin films with outstanding electric properties.
    Chi, Q.G. ; Dong, J.F. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 704 (2017-05-15), S. 336-342
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Great enhancement of polarization in the (Ba0.67Sr0.33TiO3/LaNiO3)n multilayer thin films.
    Chen, X.Y. ; Xu, Z.P. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 695 (2017-02-25), S. 1913-1917
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Structure and electrical properties of BiFeO<subscript>3</subscript> thin films grown on LaNiO<subscript>3</subscript> electrode by chemical solution deposition
    Zhang, Hailei ; Chen, Xinman ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 500 (2010-06-18), Heft 1, S. 46-48
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Electrical transport behavior of lead-free 0.5Ba(Zr<subscript>0.2</subscript>Ti<subscript>0.8</subscript>)O<subscript>3</subscript>–0.5(Ba<subscript>0.7</subscript>Ca<subscript>0.3</subscript>)TiO<subscript>3</subscript> thin film grown on LaNiO<subscript>3</subscript>/Si by pulsed laser deposition.
    Bhardwaj, Chandan ; Kaur, Davinder
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 595 (2014-05-15), S. 158-163
    academicJournal
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    Annealing effect on the bipolar resistive switching behaviors of BiFeO<subscript>3</subscript> thin films on LaNiO<subscript>3</subscript>-buffered Si substrates
    Chen, Xinman ; Zhang, Hu ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 529 (2012-07-15), S. 108-112
    academicJournal
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    Measurement of residual stress of PZT thin film on Si(100) by synchrotron X-ray rocking curve technique
    Yu, Y.H. ; Lai, M.O. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 449 (2008-01-31), Heft 1/2, S. 56-59
    academicJournal
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    Dielectric property and energy-storage performance of (100)-preferred (1-x)PbTiO3-xBi(Mg0.5Ti0.5)O3 relaxor ferroelectric thin films.
    Wang, Chao ; Sun, Ningning ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 810 (2019-11-25), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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