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    Magnetic and transport properties of evaporated Fe/SiO multilayers
    Vergnat, Michel ; Bellouard, C. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 96 (2004-07-15), S. 1159-1164
    Online unknown
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    Surface effects on shape, self-organization and photoluminescence of InAs islands grown on InAlAs/InP(001)
    Hollinger, G. ; Brault, Julien ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 92 (2002-07-01), S. 506-510
    Online unknown
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    Evidence of light-emitting amorphous silicon clusters confined in a silicon oxide matrix
    Rinnert, Hervé ; Vergnat, Michel ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 89 (2001), S. 237-243
    Online unknown
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    Solid state interdiffusions in epitaxial Fe/GaAs(001) heterostructures during ultrahigh vacuum annealings up to 450 °C
    Guérin, Roland ; Jézéquel, Guy ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 83 (1998-03-15), S. 3077-3080
    Online unknown
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    Soft x-ray resonant magnetic reflectivity study of thin films and multilayers
    Tonnerre, Jean-Marc ; Barbara-Dechelette, A. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 83 (1998-06-01), S. 6293-6295
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    LaAlO3/Si capacitors: Comparison of different molecular beam deposition conditions and their impact on electrical properties
    Grenet, Geneviève ; Plossu, C. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 113 (2013-01-21), S. 034106-34106
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    1.54μm photoluminescence of Er-doped GeOx thin films
    Rinnert, Hervé ; Vergnat, Michel ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 102 (2007-11-15), S. 106103-106103
    Online unknown
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    Influence of the annealing temperature on the photoluminescence of Er-doped SiO thin films
    Vergnat, Michel ; Rinnert, Hervé ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 102 (2007-09-01), S. 053515-53515
    Online unknown
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    Evolution with the annealing treatments of the photoluminescence mechanisms in a-SiNx:H alloys prepared by reactive evaporation
    Molinari, M. ; Rinnert, Hervé ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 101 (2007-06-15), S. 123532-123532
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    Optical reflectivity as a simple diagnostic method for testing structural quality of icosahedral quasicrystals
    Dauscher, Anne ; Machizaud, F. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 100 (2006-08-15), S. 043503-43503
    Online unknown
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    Photoluminescence and electroluminescence of size-controlled silicon nanocrystallites embedded in SiO2 thin films
    Jambois, Olivier ; Devaux, Xavier ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 98 (2005-08-15), S. 046105-46105
    Online unknown
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