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    Impact of Channel, Stress-Relaxed Buffer, and S/D Si1−xGe x Stressor on the Performance of 7-nm FinFET CMOS Design with the Implementation of Stress Engineering
    Othman, N. A. F. ; Sharifah Wan Muhamad Hatta ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 47 (2018-01-16), S. 2337-2347
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    Low-Threshold II–VI Lattice-Matched SWS-FETs for Multivalued Low-Power Logic
    Heller, Evan ; Gudlavalleti, R. H. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 50 (2021-03-05), S. 2618-2629
    Online unknown
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    All-2D-Materials-Based Interconnects
    Sanaeepur, Majid
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 49 (2020-07-25), S. 5705-5712
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    Performance Analysis of a Charge Plasma Junctionless Nanotube Tunnel FET Including the Negative Capacitance Effect
    Kumar, Naveen ; Anand, Sunny ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 49 (2020-01-31), S. 2349-2357
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    With PECVD Deposited Poly-SiGe and Poly-Ge Forming Contacts Between MEMS and Electronics
    Wang, Qiang ; Vogt, Holger ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 48 (2019-08-26), S. 7360-7365
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    Analysis of a Direct-Bandgap GeSn-Based MQW Transistor Laser for Mid-Infrared Applications
    Kaur, Jaspinder ; Basu, Rikmantra ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 48 (2019-07-16), S. 6335-6346
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    A Review of Graphene Nanoribbon Field-Effect Transistor Structures
    Bhardwaj, Anil ; Lone, Sanna ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 50 (2021-03-31), S. 3169-3186
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    Materials Selection Approaches and Fabrication Methods in RF MEMS Switches
    Kurmendra ; Kumar, Rajesh
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 50 (2021-03-16), S. 3149-3168
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    Meso-photonic Detection with HgCdTe APDs at High Count Rates
    Nicolas, Jean-Alain ; Pes, Salvatore ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 49 (2020-09-15), S. 6881-6892
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    Subthreshold Performance Analysis of Germanium Source Dual Halo Dual Dielectric Triple Material Surrounding Gate Tunnel Field Effect Transistor for Ultra Low Power Applications
    Balamurugan, N. B. ; Suguna, M. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 48 (2019-08-06), S. 6724-6734
    Online unknown
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