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    Controllability of Static CMOS Circuits for Timing Characterization
    Datta, Ramyanshu ; Gupta, Ravi ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 24 (2008-10-01), Heft 5, S. 481-482
    Online academicJournal
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    Improving Yield and Defect Tolerance in Subthreshold CMOS Through Output-Wired Redundancy
    Granhaug, Kristian ; Aunet, Snorre
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 24 (2008-06-01), Heft 13, S. 157-158
    Online academicJournal
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    Impact of Body Bias on Delay Fault Testing of Sub-100 nm CMOS Circuits
    Paul, Bipul C. ; Roy, Kaushik
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 22 (2006-04-01), Heft 2, S. 115-116
    Online academicJournal
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    A Circuit for Concurrent Detection of Soft and Timing Errors in Digital CMOS ICs
    Matakias, S. ; Tsiatouhas, Y. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-10-01), Heft 5, S. 523-524
    Online academicJournal
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    Memory Defect Tolerance Architectures for Nanotechnologies
    Nicolaidis, Michael ; Anghel, Lorena ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 21 (2005-08-01), Heft 4, S. 445-446
    Online academicJournal
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    Fault Detection Structures of the S-boxes and the Inverse S-boxes for the Advanced Encryption Standard
    Mozaffari-Kermani, Mehran ; Reyhani-Masoleh, Arash
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 25 (2009-08-01), Heft 45, S. 225-226
    Online academicJournal
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    A Modified Charge Pumping Method for Measuring Interface States Up to the Ghz Range
    Fernández, R.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 25 (2009-08-01), Heft 45, S. 279-280
    Online academicJournal
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    On Composite Leakage Current Maximization
    Rastogi, Ashesh ; Ganeshpure, Kunal P. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 24 (2008-08-01), Heft 4, S. 405-406
    Online academicJournal
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    Self-Checking Voter for High Speed TMR Systems
    Cazeaux, José Manuel ; Rossi, Daniele ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 21 (2005-08-01), Heft 4, S. 377-378
    Online academicJournal
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    An On-Chip Spectrum Analyzer for Analog Built-In Testing
    MÉNDEZ-RIVERA, MARCIA G. ; VALDES-GARCIA, ALBERTO ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 21 (2005-06-01), Heft 3, S. 205-206
    Online academicJournal
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    Model for Transient Fault Susceptibility of Combinational Circuits
    Omaña, Martin ; Rossi, Daniele ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-10-01), Heft 5, S. 501-502
    Online academicJournal
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    Classification of Defective Analog Integrated Circuits Using Artificial Neural Networks
    Stopjaková, V. ; Malošek, P. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-02-01), Heft 1, S. 25-26
    Online academicJournal
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    Control and Observation Structure for Analog Circuits with Current Test Data
    Hsu, Chun-Lung
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-02-01), Heft 1, S. 39-40
    Online academicJournal
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    Fault Simulation for Analog Circuits Under Parameter Variations
    Khouas, Abdelhakim ; Derieux, Anne
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 16 (2000-06-01), Heft 3, S. 269-270
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    Experimental Results on BIC Sensors for Transient Current Testing
    Picos, R. ; Roca, M. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 16 (2000-06-01), Heft 3, S. 235-236
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    Compaction of IDDQ Test Sequence Using Reassignment Method
    Maeda, Toshiyuki ; Kinoshita, Kozo
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 16 (2000-06-01), Heft 3, S. 243-244
    Online academicJournal
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