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In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Jg. 20 (2004), Heft 5, S. 523-531Online serialPeriodicalZugriff:
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In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Jg. 20 (2004), Heft 2, S. 133-142Online serialPeriodicalZugriff:
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In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Jg. 19 (2003), Heft 5, S. 597-603Online serialPeriodicalZugriff:
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In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Jg. 18 (2002), Heft 3, S. 295-304Online serialPeriodicalZugriff:
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