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    A Module for BiST of CMOS RF Receivers : Test defect tolerance and reliability of nanoscale devices
    Suenaga, K. ; Picos, R. ; et al.
    In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Jg. 23 (2007), Heft 6, S. 605-612
    Online Konferenz
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    A Robust 130 nm-CMOS Built-In Current Sensor Dedicated to RF Applications : Test defect tolerance and reliability of nanoscale devices
    Cimino, M. ; Lapuyade, H. ; et al.
    In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Jg. 23 (2007), Heft 6, S. 593-604
    Online Konferenz
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    Controllability of Static CMOS Circuits for Timing Characterization
    Datta, Ramyanshu ; Gupta, Ravi ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 24 (2008-10-01), Heft 5, S. 481-496
    Online academicJournal
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    Improving Yield and Defect Tolerance in Subthreshold CMOS Through Output-Wired Redundancy
    Granhaug, Kristian ; Aunet, Snorre
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 24 (2008-06-01), Heft 1-3, S. 157-163
    Online academicJournal
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    Impact of Body Bias on Delay Fault Testing of Sub-100 nm CMOS Circuits
    Paul, Bipul C. ; Roy, Kaushik
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 22 (2006-04-01), Heft 2, S. 115
    Online academicJournal
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    CMOS Differential and Absolute Thermal Sensors
    Syal, Ashish ; Lee, Victor ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 18 (2002-06-01), Heft 3, S. 295
    Online academicJournal
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    A Circuit for Concurrent Detection of Soft and Timing Errors in Digital CMOS ICs
    Matakias, S. ; Tsiatouhas, Y. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-10-01), Heft 5, S. 523
    Online academicJournal
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    A Design for Testability Scheme for CMOS LC-Tank Voltage Controlled Oscillators
    Dermentzoglou, L. ; Tsiatouhas, Y. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-04-01), Heft 2, S. 133
    Online academicJournal
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    A BICS for CMOS OpAmps by Monitoring the Supply Current Peak
    Font, J. ; Ginard, J. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 19 (2003-10-01), Heft 5, S. 597
    Online academicJournal
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    Dynamic Power Supply Current Testing of CMOS SRAMs
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 16 (2000-10-01), Heft 5, S. 499
    Online academicJournal
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    IDDQ Testing of Opens in CMOS SRAMs
    Champac, Victor H. ; Castillejos, Jose ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 15 (1999-08-01), Heft 1, S. 53
    Online academicJournal
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    Behavior Analysis of Internal Feedback Bridging Faults in CMOS Circuits
    Miura, Yukiya ; Seno, Shuichi
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 18 (2002-04-01), Heft 2, S. 109
    Online academicJournal
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    Universal test set generation for CMOS circuits
    Chen, Beyin ; Len Lee, Chung
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 6 (1995-06-01), Heft 3, S. 313
    Online academicJournal
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    Clocked Dosimeter Compatible with Digital CMOS Technology
    Garcia-Moreno, E. ; Iniguez, B. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 12 (1998-02-01), Heft 1, S. 101
    Online academicJournal
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    IDDQ Testing of Submicron CMOS-by Cooling?
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 16 (2000-10-01), Heft 5, S. 453
    Online academicJournal
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    A neural network algorithm for testing stuck-open faults in CMOS combinational circuits
    Zhang, Zaifu ; Mcleod, Robert D. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 4 (1993-08-01), Heft 3, S. 225
    Online academicJournal
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    Bridging defects resistance in the metal layer of a CMOS process
    Rodriguez-Montanes, R. ; Bruls, E. M. J. G. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 8 (1996-02-01), Heft 1, S. 35
    Online academicJournal
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    Current testing in dynamic CMOS circuits
    Figueras, J. ; Renovell, M.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 6 (1995-02-01), Heft 1, S. 127
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    Transient power supply current monitoring-A new test method for CMOS VLSI circuits
    Su, Shyang-Tai ; Makki, Rafic Z. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 6 (1995-02-01), Heft 1, S. 23
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    Design of CMOS checkers with improved testability of bridging and transistor stuck-on faults
    Metra, C. ; Favalli, M. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 6 (1995-02-01), Heft 1, S. 7
    Online academicJournal
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