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    A Low Bit Instability CMOS PUF Based on Current Mirrors and WTA Cells.
    Mitchell-Moreno, Joseph Herbert ; Flores-Verdad, Guillermo Espinosa
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 39 (2023-12-01), Heft 5/6, S. 611-620
    Online academicJournal
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    Area-Efficient and Reliable Error Correcting Code Circuit Based on Hybrid CMOS/Memristor Circuit
    Ishizaka, Mamoru ; Shintani, Michihiro ; et al.
    In: Journal of electronic testing, Jg. 36 (2020), Heft 4, S. 537-546
    Online serialPeriodical
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    An Analytic Model for Predicting Single Event (SE) Crosstalk of Nanometer CMOS Circuits
    Liu, Baojun ; Cai, Li ; et al.
    In: Journal of electronic testing, Jg. 36 (2020), Heft 4, S. 461-467
    Online serialPeriodical
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    Comparing the Impact of Power Supply Voltage on CMOS- and FinFET-Based SRAMs in the Presence of Resistive Defects
    Copetti, T. ; Balen, T. R. ; et al.
    In: Journal of electronic testing, Jg. 36 (2020), Heft 2, S. 271-284
    Online serialPeriodical
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    Full Text Finder (Volltext)
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    Multi-Step-Ahead Prediction for a CMOS Low Noise Amplifier Aging Due to NBTI and HCI Using Neural Networks
    Yang, Chuang ; Feng, Feng
    In: Journal of electronic testing, Jg. 35 (2019), Heft 6, S. 797-808
    Online serialPeriodical
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    Single Event Transient Propagation Probabilities Analysis for Nanometer CMOS Circuits
    Cai, Shuo ; Wang, Weizheng ; et al.
    In: Journal of electronic testing, Jg. 35 (2019), Heft 2, S. 163-172
    Online serialPeriodical
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    Design Flow Methodology for Radiation Hardened by Design CMOS Enclosed-Layout-Transistor-Based Standard-Cell Library
    Vaz, Pablo Ilha ; Both, Thiago Hanna ; et al.
    In: Journal of electronic testing, Jg. 34 (2018), Heft 6, S. 735-747
    Online serialPeriodical
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    Radiation-Induced Fault Simulation of SOI/SOS CMOS LSI's Using Universal Rad-SPICE MOSFET Model.
    Petrosyants, Konstantin ; Sambursky, Lev ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 33 (2017-02-01), Heft 1, S. 37-51
    Online academicJournal
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    CMOS Implementation and Performance Analysis of Known Approximate 4:2 Compressors.
    Anguraj, Parthibaraj ; Krishnan, Thiruvenkadam ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 38 (2022-08-01), Heft 4, S. 353-370
    Online academicJournal
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    Fast and Automated Electromigration Analysis for CMOS RF PA Design.
    Gu, Junjie ; Fu, Haipeng ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 33 (2017-02-01), Heft 1, S. 133-140
    Online academicJournal
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    A New Capacitance-to-Frequency Converter for On-Chip Capacitance Measurement and Calibration in CMOS Technology.
    Zhu, Dongdi ; Mo, Jiongjiong ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-06-01), Heft 3, S. 393-397
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A New On-chip Signal Generator for Charge-Based Capacitance Measurement Circuit.
    Yu, Xiao ; Tian, Rong ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 31 (2015-06-01), Heft 3, S. 329-333
    Online academicJournal
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    A CMOS Ripple Detector for Voltage Regulator Testing.
    Nguyen, Hieu ; Ozmen, Cagatay ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-04-01), Heft 2, S. 227-233
    Online academicJournal
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    A Determinate Radiation Hardened Technique for Safety-Critical CMOS Designs.
    Huang, Ryan ; Hsu, Dennis ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 31 (2015-04-01), Heft 2, S. 181-192
    Online academicJournal
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    A 65nm CMOS Ramp Generator Design and its Application Towards a BIST Implementation of the Reduced-Code Static Linearity Test Technique for Pipeline ADCs.
    Renaud, Guillaume ; Barragan, Manuel ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-08-01), Heft 4, S. 407-421
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An SEU-Resilient SRAM Bitcell in 65-nm CMOS Technology.
    Chen, Qingyu ; Wang, Haibin ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-06-01), Heft 3, S. 385-391
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A New Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Digital CMOS Circuits and Systems.
    Tran, D. ; Virazel, A. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 30 (2014-08-01), Heft 4, S. 401-413
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Wide Dynamic Range CMOS Amplifier Design for RF Signal Power Detection via Electro-Thermal Coupling.
    Feng, Junpeng ; Onabajo, Marvin
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 30 (2014-02-01), Heft 1, S. 101-109
    Online academicJournal
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    NBTI and Power Reduction Using a Workload-Aware Supply Voltage Assignment Approach.
    Yu, Yang ; Liang, Jie ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 34 (2018-02-01), Heft 1, S. 27-41
    Online academicJournal
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    Current Consumption and Power Integrity of CMOS Digital Circuits Under NBTI Wearout.
    Ruiz, J. ; Fernández-Garcia, R. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 28 (2012-12-01), Heft 6, S. 865-868
    Online academicJournal
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