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    A New Capacitance-to-Frequency Converter for On-Chip Capacitance Measurement and Calibration in CMOS Technology.
    Zhu, Dongdi ; Mo, Jiongjiong ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-06-01), Heft 3, S. 393-397
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    A New On-chip Signal Generator for Charge-Based Capacitance Measurement Circuit.
    Yu, Xiao ; Tian, Rong ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 31 (2015-06-01), Heft 3, S. 329-333
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
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    Clocked Dosimeter Compatible with Digital CMOS Technology.
    Garcia-Moreno, E. ; Iñiguez, B. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 12 (1998-02-01), Heft 1/2, S. 101-110
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -