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    Low-Power Resonant Clocking Using Soft Error Robust Energy Recovery Flip-Flops
    Islam, Riadul
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 34 (2018-06-27), S. 471-485
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A Reliability-Aware Methodology to Isolate Timing-Critical Paths under Aging
    Saluja, Kewal K. ; Singh, Adit D. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 33 (2017-11-28), S. 721-739
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A Novel Built-in Current Sensor for N-WELL SET Detection
    Bi, Jinshun ; Liu, Rui ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 31 (2015-08-01), S. 395-401
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Experimental Results of Testing a BIST Σ–Δ ADC on the HOY Wireless Test Platform
    Hong, Hao-Chiao ; Shao Feng Hung
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 28 (2012-05-09), S. 571-584
    Online unknown
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    [Untitled]
    Weber, Walter W. ; Singh, Adit D.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 11 (1997), S. 147-156
    Online unknown
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Towards Fault-Tolerant RF Front Ends
    Das, T. ; Washburn, C. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 22 (2006-12-01), S. 371-386
    Online unknown
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    [Untitled]
    Arabi, Karim ; Kaminska, Bozena
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 12 (1998), S. 93-99
    Online unknown
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    [Untitled]
    Szekely, Vladimir ; Torok, S. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 16 (2000), S. 453-461
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Built-in Self-Test Scheme for Memory Interfaces Timing Test and Measurement
    Kim, Hyunjin ; Abraham, Jacob A.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 28 (2012-09-07), S. 585-597
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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xl 1200 - 1366
xxl 1366 -