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    Current testing in dynamic CMOS circuits
    Figueras, Joan ; Renovell, Michel
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 6 (1995-02-01), S. 127-131
    Online unknown
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    Transient power supply current monitoring?A new test method for CMOS VLSI circuits
    Nagle, Troy ; Makki, Rafic Z. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 6 (1995-02-01), S. 23-43
    Online unknown
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    Quiescent current analysis and experimentation of defective CMOS circuits
    Segura, Jaume ; Figueras, Joan ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 3 (1992-12-01), S. 337-348
    Online unknown
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    Estimating Operational Age of an Integrated Circuit
    Singh, Adit D. ; Chowdhury, Prattay ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 37 (2021-02-01), S. 25-40
    Online unknown
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    Multiple Missing Cell Defect Modeling for QCA Devices
    Dhare, Vaishali ; Mehta, Usha
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 34 (2018-11-20), S. 623-641
    Online unknown
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    Low-Power Resonant Clocking Using Soft Error Robust Energy Recovery Flip-Flops
    Islam, Riadul
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 34 (2018-06-27), S. 471-485
    Online unknown
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    NBTI-Aware Design of Integrated Circuits: A Hardware-Based Approach for Increasing Circuits’ Life Time
    L. Bolzani Poehls ; Copetti, T. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32 (2016-05-16), S. 315-328
    Online unknown
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    A Novel Built-in Current Sensor for N-WELL SET Detection
    Bi, Jinshun ; Liu, Rui ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 31 (2015-08-01), S. 395-401
    Online unknown
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    Effective Timing Error Tolerance in Flip-Flop Based Core Designs
    Arapoyanni, Angela ; Xarchakos, Petros ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 29 (2013-11-07), S. 795-804
    Online unknown
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    [Untitled]
    Arabi, Karim ; Kaminska, Bozena
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 12 (1998), S. 93-99
    Online unknown
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    [Untitled]
    Segura, Jaume ; Garcia-Moreno, E. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 12 (1998), S. 101-110
    Online unknown
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    Classification of Defective Analog Integrated Circuits Using Artificial Neural Networks
    Stopjakova, Viera ; Malosek, P. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 20 (2004-02-01), S. 25-37
    Online unknown
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