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    Behavior Analysis of Internal Feedback Bridging Faults in CMOS Circuits
    Miura, Yukiya ; Seno, Shuichi
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 18 (2002-04-01), Heft 2, S. 109-120
    Online academicJournal
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    Universal test set generation for CMOS circuits
    Chen, Beyin ; Len Lee, Chung
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 6 (1995-06-01), Heft 3, S. 313-323
    Online academicJournal
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    Dynamic Power Supply Current Testing of CMOS SRAMs
    Liu, Jian ; Makki, Rafic Z. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 16 (2000-10-01), Heft 5, S. 499-511
    Online academicJournal
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    View record at Springer (Volltext)
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    Clocked Dosimeter Compatible with Digital CMOS Technology
    Garcia-Moreno, E. ; Iñiguez, B. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 12 (1998-02-01), Heft 1-2, S. 101-110
    Online academicJournal
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    Bridging defects resistance in the metal layer of a CMOS process
    Rodríguez-Montañés, R. ; Bruls, E. M. J. G. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 8 (1996-02-01), Heft 1, S. 35-46
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Current testing in dynamic CMOS circuits
    Figueras, J. ; Renovell, M.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 6 (1995-02-01), Heft 1, S. 127-131
    Online academicJournal
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    View record at Springer (Volltext)
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    Design of CMOS checkers with improved testability of bridging and transistor stuck-on faults
    Metra, C. ; Favalli, M. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 6 (1995-02-01), Heft 1, S. 7-22
    Online academicJournal
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    CMOS Differential and Absolute Thermal Sensors
    Syal, Ashish ; Lee, Victor ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 18 (2002-06-01), Heft 3, S. 295-304
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Impact of Body Bias on Delay Fault Testing of Sub-100 nm CMOS Circuits
    Paul, Bipul C. ; Roy, Kaushik
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 22 (2006-04-01), Heft 2, S. 115-124
    Online academicJournal
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    A Circuit for Concurrent Detection of Soft and Timing Errors in Digital CMOS ICs
    Matakias, S. ; Tsiatouhas, Y. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 20 (2004-10-01), Heft 5, S. 523-531
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Design for Testability Scheme for CMOS LC-Tank Voltage Controlled Oscillators
    Dermentzoglou, L. ; Tsiatouhas, Y. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 20 (2004-04-01), Heft 2, S. 133-142
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A BICS for CMOS OpAmps by Monitoring the Supply Current Peak
    Font, J. ; Ginard, J. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 19 (2003-10-01), Heft 5, S. 597-603
    Online academicJournal
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    IDDQ Testing of Opens in CMOS SRAMs
    Champac, Victor H. ; Castillejos, José ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 15 (1999-08-01), Heft 1-2, S. 53-62
    Online academicJournal
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    A neural network algorithm for testing stuck-open faults in CMOS combinational circuits
    Zhang, Zaifu ; Mcleod, Robert D. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 4 (1993-08-01), Heft 3, S. 225-235
    Online academicJournal
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    IDDQ Testing of Submicron CMOS—by Cooling?
    Rencz, M. ; Székely, V. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 16 (2000-10-01), Heft 5, S. 453-461
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    SeparateI <subscript>DDQ</subscript> testing of signal and bias paths in CMOS ICs for defect diagnosis
    Sachdev, Manoj
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 8 (1996-04-01), Heft 2, S. 203-214
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Fault modeling and fault equivalence in CMOS technology
    Flottes, Marie -Lise ; Landrault, Christian ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 2 (1991-08-01), Heft 3, S. 229-241
    Online academicJournal
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    Transient power supply current monitoring—A new test method for CMOS VLSI circuits
    Su, Shyang-Tai ; Makki, Rafic Z. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 6 (1995-02-01), Heft 1, S. 23-43
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    I <subscript> DDQ </subscript> testing in CMOS digital ASICs
    Perry, Roger
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 3 (1992-12-01), Heft 4, S. 317-325
    Online academicJournal
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    Quiescent current analysis and experimentation of defective CMOS circuits
    Segura, J. A. ; Champac, V. H. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 3 (1992-12-01), Heft 4, S. 337-348
    Online academicJournal
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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