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    Neutron induced noise degradation of ASICs in 350 nm CMOS technology
    Yaoguang, Liu ; Ying, Zhang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-10-19), S. T10005
    Online unknown
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    Fast signal transfer in a large-area X-ray CMOS image sensor
    Jae, M ; Lee, Dae-Hee ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-08-28), S. P08011
    Online unknown
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    Depleted Monolithic Active Pixel Sensors (DMAPS) implemented in LF-150 nm CMOS technology
    Kishishita, T. ; Krüger, Hans ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-26), S. C03047
    Online unknown
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    Monolithic arrays of SDDs and low noise CMOS readout for X-ray spectroscopy measurements in nuclear physics experiments
    Butt, A. D. ; Quaglia, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-03), S. C03001
    Online unknown
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    1-Grad total dose evaluation of 65 nm CMOS technology for the HL-LHC upgrades
    Rozanov, Alexandre ; Valerio, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-05-12), S. C05009
    Online unknown
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    An 8-channel programmable 80/160/320 Mbit/s radiation-hard phase-aligner circuit in 130 nm CMOS
    Tavernier, Filip ; Moreira, Paulo ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012-12-20), S. C12022
    Online unknown
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    Single-event upset sensitivity of latches in a 90nm dual and triple well CMOS technology
    Pierobon, L ; Marchioro, A. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-12-06), S. C12011
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Response of a 0.25 μm thin-film silicon-on-sapphire CMOS technology to total ionizing dose
    Reed, Robert A. ; Liu, T. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 5 (2010-11-29), S. C11021
    Online unknown
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    Noise characterisation of MOS transistors in a 0.35 μm CMOS technology of geometries dedicated to front-end circuits for strip detectors
    Dabrowski, Wladyslaw ; Fiutowski, Tomasz
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 1 (2006-11-07), S. P11001
    Online unknown
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    Radiation hardness evaluation of the commercial 150 nm CMOS process using 60Co source
    Janoska, Z. ; Tomasek, L. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-06-09), S. C06005
    Online unknown
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    Depleted Monolithic Pixels (DMAPS) in a 150 nm technology: lab and beam results
    Hügging, Fabian ; Krüger, Hans ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-01-23), S. C01062
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Characterization of a Depleted Monolithic Active Pixel Sensor (DMAPS) prototype
    Kishishita, T. ; Wermes, Norbert ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-27), S. C03049
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Charge collection properties of a depleted monolithic active pixel sensor using a HV-SOI process
    Fernandez-Garcia, M. ; Kishishita, T. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-01-25), S. C01063
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A study of radiation damage and heat annealing effect on the irradiated 3T active pixel sensor
    Kim, Myung-Soo ; Dong Uk Kang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-04-18), S. C04015
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Readout electronics for LGAD sensors
    Flores, David ; Quirion, David ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-02-22), S. C02069
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Timepix3: a 65K channel hybrid pixel readout chip with simultaneous ToA/ToT and sparse readout
    Llopart, X. ; Kruth, Andre ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-05-13), S. C05013
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A monolithic pixel sensor (TRAPPISTe-2) for particle physics instrumentation in OKI 0.2μmSOI technology
    Cortina, E. ; L. Soung Yee ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012-12-20), S. C12028
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Development of a low noise readout ASIC for CZT detectors for gamma-ray spectroscopy applications
    Li, H. J. ; Wang, G ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012-08-31), S. P08030
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Radiation-hard/high-speed array-based optical engine
    Vogt, M. ; Smith, D.S. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-12-19), S. C12042
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    The read-out ASIC for the Space NUCLEON project
    Voronin, A. A. ; Kudryashov, I. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-04-08), S. C04005
    Online unknown
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xs 0 - 576
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xl 1200 - 1366
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