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    Investigation of random telegraph signal in CMOS image sensors irradiated by protons.
    Liu, Bingkai ; Li, Yudong ; et al.
    In: Journal of Nuclear Science & Technology, Jg. 58 (2021-05-01), Heft 5, S. 610-619
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Displacement damage effects induced by fast neutron in backside-illuminated CMOS image sensors.
    Zhang, Xiang ; Li, Yudong ; et al.
    In: Journal of Nuclear Science & Technology, Jg. 57 (2020-09-01), Heft 9, S. 1015-1021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A membrane, pseudo-vertical p-i-n diamond detector.
    Kishishita, Tetsuichi ; Ichikawa, Kimiyoshi ; et al.
    In: Journal of Nuclear Science & Technology, Jg. 60 (2023-10-15), Heft 10, S. 1285-1291
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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