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    Examination of the Relationships among TSE, TWE, and TOEFL Scores.
    DeMauro, G.
    In: Language Testing, Jg. 9 (1992), Heft 2, S. 149-161
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    academicJournal
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    Examination of the relationships among TSE, TWE and TOEFL scores
    DeMauro, G.
    In: Language Testing, Jg. 9 (1992-12-01), S. 149-161
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A long-term research agenda for the Test of Written English.
    Stansfield, Charles W. ; Ross, Jacqueline
    In: Language Testing, Jg. 5 (1988-12-01), Heft 2, S. 160-186
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Rater bias patterns in an EFL writing assessment.
    Schaefer, Edward
    In: Language Testing, Jg. 25 (2008-10-01), Heft 4, S. 465-493
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A long-term research agenda for the Test of Written English
    Stansfield, Charles W. ; Ross, Jacqueline
    In: Language Testing, Jg. 5 (1988-12-01), S. 160-186
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Rater Bias Patterns in an EFL Writing Assessment
    Schaefer, Edward
    In: Language Testing, Jg. 25 (2008), Heft 4, S. 465-493
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -