Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
14 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Sprache

14 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Effects of carbon implantation on the low temperature magnetism behavior in amorphous Fe93Zr7 films
    Alouhmy, M. ; Moubah, R. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 279 (2022-05-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Structural, magnetic, magnetocaloric properties and critical behavior of La0.62Nd0.05Ba0.33MnO3 elaborated by co-precipitation process
    Tillaoui, S. ; El Boubekri, A. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 266 (2021-04-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Structural properties of Ge-implanted SiO 2 layers and related MOS memory effects
    Duguay, S. ; Slaoui, A. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 124 (2005), S. 488-493
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Two-dimensional simulation of the thermal stress effect on static and dynamic VDMOS characteristics
    Alwan, M. ; Beydoun, B. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 124 (2005), S. 335-340
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Crystallographic properties of magnetron sputtered barium ferrite films
    Capraro, S. ; Berre, M. Le ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 112 (2004), Heft 1, S. 19-24
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Influence of carrier and doping gases on the chemical vapor deposition of silicon quantum dots
    Mazen, F. ; Baron, T. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 101 (2003), Heft 1, S. 164-168
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Effect of spacer layer thickness on the optical properties of stacked InAs/InAlAs quantum wires grown on InP (001)
    Salem, B. ; Brèmond, G. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 101 (2003), Heft 1, S. 259-261
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Characteristics of aluminum-implanted 6H-SiC samples after different thermal treatments
    Ottaviani, Laurent ; Lazar, Mihai ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 90 (2002), Heft 3, S. 301-308
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Dopant diffusion in SiGe: modeling stress and Ge chemical effects
    Pakfar, A
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 89 (2002), Heft 1, S. 225-228
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A model for diffusion of beryllium in InGaAs/InP heterostructures
    Ihaddadene, M. ; Koumetz, S. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 80 (2001), Heft 1, S. 73-76
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Micro-Raman study of thermoelastic stress distribution in oxidized silicon membranes and correlation with finite element modeling
    Guyot, Y. ; Malhaire, C. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 46 (1997), Heft 1, S. 24-28
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Optimisation of RF magnetron sputtering and RTA-crystallisation of Pb(Zr 0.52Ti 0.48)O 3 thin films by means of the orthogonal array method
    Defay, Emmanuel ; Leberre, Martine ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 55 (1998), Heft 1, S. 123-129
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Materials problems for the development of InGaAs/InAlAs HEMT technology
    Zekentes, K. ; Halkias, G. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 20 (1993), Heft 1, S. 21-25
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Strain relaxation studied by photoluminescence and by double crystal X-ray diffraction measurements in strained InGaAs
    Tabata, A. ; Benyattou, T. ; et al.
    In: Materials Science & Engineering B, Jg. 22 (1994), Heft 2, S. 222-226
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -