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  1. EVANGELOU, E ; KONOFAOS, N ; et al.
    In: European Materials Research Society 1999 Spring Meeting, Symposium F: Process Induced Defects in Semiconductors, June 1-4, Jg. 71 (2000), Heft 1-3, S. 315-320
    Online Konferenz
  2. NARAYAN, J ; REDDY, J ; et al.
    In: Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, Jg. 26 (1994), Heft 1, S. 49-53
    academicJournal
  3. ESCOBAR-ALAARCON, L ; VILLARREAL-BARAJAS, J. E ; et al.
    In: Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, Jg. 90 (2002), Heft 1-2, S. 79-83
    academicJournal
  4. SHARMA, A. K ; KALYANARAMAN, R ; et al.
    In: Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, Jg. 79 (2001), Heft 2, S. 123-127
    academicJournal
  5. ZHENGFU, HAN ; YUXUAN, ZHANG ; et al.
    In: Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, Jg. 78 (2000), Heft 2-3, S. 109-112
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -