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In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 161 (2023-07-01)academicJournalZugriff:
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In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 158 (2023-05-01)academicJournalZugriff:
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In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 154 (2023-02-01)academicJournalZugriff:
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In: Materials science in semiconductor processing, Jg. 140 (2022)serialPeriodicalZugriff:
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In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 24 (2014-08-01), S. 9-14academicJournalZugriff:
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In: Materials science in semiconductor processing, Jg. 13 (2010), Heft 3, S. 189-192academicJournalZugriff:
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In: Materials Science in Semiconductor Processing, Jg. 71 (2017-11-15), S. 326-331academicJournalZugriff:
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In: Materials science in semiconductor processing, Jg. 70 (2017), S. 105-110serialPeriodicalZugriff:
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In: Materials science in semiconductor processing, Jg. 71 (2017), S. 470-476serialPeriodicalZugriff:
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In: Materials science in semiconductor processing, Jg. 67 (2017), S. 92-97serialPeriodicalZugriff:
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In: Materials science in semiconductor processing, Jg. 66 (2017), S. 87-91serialPeriodicalZugriff:
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In: MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Jg. 11 (2008), Heft 5/6, S. 271-278KonferenzZugriff:
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In: MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Jg. 11 (2008), Heft 5/6, S. 241-244KonferenzZugriff: