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    Radiation-tolerance analysis of I-gate n-MOSFET according to isolation oxide module in the CMOS bulk process
    Cho, Seong-Ik ; Lee, Nam-Ho ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 200 (2018-11-01), S. 45-50
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    High speed and low sensitive current-mode CMOS perceptron
    Szczźsny, Szymon
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 165 (2016-11-01), S. 41-51
    Online unknown
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    High performance full subtractor using floating-gate MOSFET
    Gupta, R. K. ; Gupta, Rockey ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 162 (2016-08-01), S. 75-78
    Online unknown
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    Content addressable memory cell in quantum-dot cellular automata
    Ahmad Habibizad Navin ; Hosseinzadeh, Mehdi ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 163 (2016-09-01), S. 140-150
    Online unknown
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    The impacts of fabrication error in Si wire-waveguides on spectral variation of coupled resonator optical waveguides
    Tokushima, Masatoshi ; Horikawa, Tsuyoshi ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 156 (2016-04-01), S. 46-49
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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