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    Performance improvement of chip-level CMOS-integrated ReRAM cells through material optimization
    Demirci, Tugba ; Leblebici, Yusuf ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 214 (2019-06-01), S. 74-80
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    Improved digital performance of hybrid CMOS inverter with Si p-MOSFET and InGaAs n-MOSFET in the nanometer regime
    Tewari, Suchismita ; De, Suchismita ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 211 (2019-04-01), S. 18-25
    Online unknown
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    Digital image correlation of SEM images for surface deformation of CMOS IC
    Tzu Ching Chen ; Lin, Ming-Tzer ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 201 (2018-12-01), S. 16-21
    Online unknown
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    Radiation-tolerance analysis of I-gate n-MOSFET according to isolation oxide module in the CMOS bulk process
    Cho, Seong-Ik ; Lee, Nam-Ho ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 200 (2018-11-01), S. 45-50
    Online unknown
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    Fabrication and characterization of a hammer-shaped CMOS/BEOL-embedded nanoelectromechanical (NEM) relay
    Uranga, Arantxa ; Torres, F. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 192 (2018-05-01), S. 44-51
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    Self-aligned inversion-channel n-InGaAs, p-GaSb, and p-Ge MOSFETs with a common high κ gate dielectric using a CMOS compatible process
    Chen, S.H. ; Brown, Gail J. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 147 (2015-11-01), S. 330-334
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    Polycrystalline silicon gate originated CMOS device failure investigated by Scanning Spreading Resistance Microscopy
    Richter, Mirco ; Mikolajick, Thomas ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 142 (2015-07-01), S. 40-46
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    Challenges of nickel silicidation in CMOS technologies
    Jordan-Sweet, Jean ; Nummy, Karen A. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 137 (2015-04-01), S. 79-87
    Online unknown
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    WITHDRAWN: Sub-20 nm multilayer nanopillar patterning for hybrid SET/CMOS integration
    Tiron, Raluca ; Engelmann, Hans-Jürgen ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, 2020-05-01, S. 111336-111336
    Online unknown
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    Monolithic z-axis CMOS MEMS accelerometer
    Tseng, Sheng-Hsiang ; Wu, Po-Chang ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 119 (2014-05-01), S. 178-182
    Online unknown
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    CMOS-MEMS switches based on back-end metal layers
    Torres, F. ; Munoz-Gamarra, J. L. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 119 (2014-05-01), S. 127-130
    Online unknown
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    Integration of NEMS resonators in a 65nm CMOS technology
    Giner, J. ; Marigo, E. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 110 (2013-10-01), S. 246-249
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    Single chip integration of MWCNTs/SiO2 thin film humidity sensor based on standard CMOS IC process
    Yin, Liang ; Li, Tuo ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 119 (2014-05-01), S. 155-158
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    Ni(Pt)-silicide contacts on CMOS devices: Impact of substrate nature and Pt concentration on the phase formation
    Descoins, Marion ; Juhel, Marc ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 120 (2014-05-01), S. 34-40
    Online unknown
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    High resolution nanotopography characterization at die scale of 28nm FDSOI CMOS front-end CMP processes
    Beitia, C. ; Rivoire, Maurice ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 113 (2014), S. 105-108
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Resistive humidity microsensor with circuit manufactured by the CMOS process
    Yang, Ming-Zhi ; Lin, Wei-Yi ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 105 (2013-05-01), S. 81-85
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Cancellation of the parasitic feedthrough current in an integrated CMOS–MEMS clamped-clamped beam resonator
    Colinet, Eric ; Giner, J. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 98 (2012-10-01), S. 599-602
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A 230MHz CMOS-MEMS bulk acoustic wave resonator
    Uranga, Arantxa ; Giner, J. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 98 (2012-10-01), S. 458-462
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    3-D stacked CMOS inverters using Pt/HfO2 on Si substrate for vertical integrated CMOS applications
    Cho, Won-Ju ; Oh, Soon-Young ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 85 (2008-05-01), S. 1206-1209
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Development of a slow-wave MEMS phase shifter on CMOS technology for millimeter wave frequencies
    Rehder, Gustavo P. ; Ferrari, Philippe ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 90 (2012-02-01), S. 19-22
    Online unknown
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xs 0 - 576
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