Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
7 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

7 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Negative Bias Temperature Instability in CMOS Devices
    MAHAPATRA, S ; ALAM, M. A ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 114-121
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    High performance and highly reliable novel CMOS devices using accumulation mode multi-gate and fully depleted SOI MOSFETs
    CHENG, W ; TERAMOTO, A ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2105-2108
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Incidence of oxide and interface degradation on MOSFET performance
    CESTER, A ; BANDIERA, L ; et al.
    In: INFOS 2003 Proceedings of the 13th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors: June 18-20, Jg. 72 (2004), Heft 1-4, S. 66-70
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    MOSFET output characteristics after oxide breakdown
    FERNANDEZ, R ; RODRIGUEZ, R ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 84 (2007), Heft 1, S. 31-36
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Effect of plasma process-induced damage on bias temperature instability of MOSFETs
    JANG, T. S ; HA, M. H ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 3, S. 415-422
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    New concept of high-k integration in MOSFET's by a deposition through contact holes
    HARRISON, S ; CORONEL, P ; et al.
    In: INFOS 2003 Proceedings of the 13th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors: June 18-20, Jg. 72 (2004), Heft 1-4, S. 321-325
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    High dielectric permittivity impact on SOI Double-Gate Mosfet : Emerging materials and processes for nanoelectronics and sensors
    SAMIA, Slimani ; BOUAZA, Djellouli
    In: Microelectronic engineering, Jg. 112 (2013), S. 213-219
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -