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    Fin-height controlled TiN-gate FinFET CMOS based on experimental mobility
    LIU, Y. X ; MATSUKAWA, T ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2101-2104
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Vertical integrated-gate CMOS for ultra-dense IC
    YIJIAN, CHEN ; CHU, Albert
    In: Proceedings of the 31st International Conference on Micro- and Nano-Engineering: 19-22 September 2005, Vienna, Austria, Jg. 83 (2006), Heft 4-9, S. 1745-1748
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Materials and device structures for sub-32 nm CMOS nodes
    SKOTNICKI, Thomas
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 1845-1852
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Negative Bias Temperature Instability in CMOS Devices
    MAHAPATRA, S ; ALAM, M. A ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 114-121
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Simulation of implant free III-V MOSFETs for high performance low power Nano-CMOS applications
    ASENOV, A ; KALNA, K ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2398-2403
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Breakdowns in high-k gate stacks of nano-scale CMOS devices
    PEY, K. L ; RANJAN, R ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 353-361
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A hybrid CMOS-SET co-fabrication platform using nano-grain polysilicon wires
    ECOFFEY, S ; POTT, V ; et al.
    In: Micro and Nano Engineering 2004: Proceedings of the 30th International Conference on Micro and Nano Engineering, September 19-22, Jg. 78-79 (2005), S. 239-243
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimization of a very cost-effective high voltage p-channel transistor implemented in a standard twin-tub CMOS technology
    PEREZ-TOMAS, A ; JORDA, X ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 77 (2005), Heft 2, S. 158-167
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    An automatic parameter extraction technique for advanced CMOS device modeling using genetic algorithm : On VLSI design and test
    YIMING, LI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 84 (2007), Heft 2, S. 260-272
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Investigation of NiA1N as gate-material for submicron CMOS technology
    EFAVI, J. K ; LEMME, M. C ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2004. Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2004, Brussels, Belgium, March 7-10, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 354-359
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    SrHfO3 as gate dielectric for future CMOS technology
    ROSSEL, C ; SOUSA, M ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 1869-1873
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Process-variation-and random-dopants-induced threshold voltage fluctuations in nanoscale CMOS and SOI devices
    YIMING, LI ; YU, Shao-Ming ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2117-2120
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    High performance and highly reliable novel CMOS devices using accumulation mode multi-gate and fully depleted SOI MOSFETs
    CHENG, W ; TERAMOTO, A ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2105-2108
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Si/Si1-xGex heterostructure field effect transistors fabricated using a low thermal budget CMOS process
    DUNFORD, R. B ; PAUL, D. J ; et al.
    In: Micro- and Nano-Engineering 99: MNE 99, Jg. 53 (2000), Heft 1-4, S. 209-212
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Fabrication of Bulk-Si FinFET using CMOS compatible process
    ZHOU, HUAJIE ; SONG, YI ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 94 (2012), S. 26-28
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Compact modeling of 0.35 μm SOI CMOS technology node for 4 K DC operation using Verilog-A
    AKTURK, A ; PECKERAR, M ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 87 (2010), Heft 12, S. 2518-2524
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Ni-salicided CMOS with a poly-SiGe/Al2O3/HfO2/Al2O3 gate stack
    WU, D ; VON HAARTMAN, M ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 77 (2005), Heft 1, S. 36-41
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Plasma-induced Si/SiO2 interface damage in CMOS
    CELLERE, G ; VALENTINI, M. G ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 63 (2002), Heft 4, S. 433-442
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Ge based high performance nanoscale MOSFETs
    SARASWAT, Krishna C ; CHI ON, CHUI ; et al.
    In: Infos 2005: Proceedings of the 14th Biennal Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 22-24, Jg. 80 (2005), S. 15-21
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Performance and reliability of ultra-thin oxide nMOSFETs under variable body bias
    CRUPI, F ; MAGNELLI, L ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 1947-1950
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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