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    On the scaling of subnanometer EOT gate dielectrics for ultimate nano CMOS technology
    Iwai, Hiroshi ; Wong, Hei
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 138 (2015-04-01), S. 57-76
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    A comparison study of CMOS T/R switches using gate/source-terminated field-plate transistors
    Chiu, Hsien-Chin ; Lin, Shao-Wei ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 87 (2010-02-01), S. 225-229
    Online unknown
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    Gate dielectric degradation in CMOS inverters
    Gerardin, Simone ; Ghidini, Gabriella ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 86 (2009-10-01), S. 2123-2126
    Online unknown
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    Some issues in advanced CMOS gate stack performance and reliability
    Shen, C. ; Li, Ming-Fu ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 88 (2011-12-01), S. 3377-3384
    Online unknown
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    Materials and device structures for sub-32 nm CMOS nodes
    Skotnicki, Thomas
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 84 (2007-09-01), S. 1845-1852
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    Optimization of a very cost-effective high voltage p-channel transistor implemented in a standard twin-tub CMOS technology
    Godignon, Phillippe ; Jordí, X. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 77 (2005-02-01), S. 158-167
    Online unknown
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    Emulating switch-level models of CMOS circuits
    Ejlali, Alireza ; Seyed Ghassem Miremadi
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 84 (2007-02-01), S. 204-212
    Online unknown
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    High mobility CMOS transistors on Si/SiGe heterostructure channels
    Lee, Se-Hoon ; Huang, Jeff ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 97 (2012-09-01), S. 26-28
    Online unknown
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    Monolithic integration of a silicon micromotor in combination with the CMOS drive circuit on one chip
    Horstmann, J. T. ; Goser, K. F.
    In: Microelectronic Engineering, 2003-06-01, S. 390-396
    Online unknown
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    3D Integration of CMOS transistors with ICV-SLID technology
    Klumpp, Armin ; Wieland, Robert ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 82 (2005-12-01), S. 529-533
    Online unknown
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    A hybrid CMOS–SET co-fabrication platform using nano-grain polysilicon wires
    Pott, V. ; Fazan, P. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, 2005-03-01, S. 239-243
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    CMOS/SOI technologies for low-power and low-voltage circuits
    Grouillet, A. ; Faynot, O. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 48 (1999-09-01), S. 327-334
    Online unknown
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    Deuterium pressure dependence of characteristics and hot-carrier reliability of CMOS devices
    Kuwang Pyuk Suh ; Chen, Zhi ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 56 (2001-08-01), S. 353-358
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    A back-biased 0.65 μm Leffn CMOS EEPROM technology for next-generation sub 7 ns programmable logic devices
    Madurawe, Raminda U. ; Cacharelis, Philip J. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 15 (1991-10-01), S. 613-616
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    Manufacturability of 3D-epitaxial-lateral-overgrowth CMOS circuits with three stacked channels
    Hoefflinger, B. ; Zingg, Rene ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 15 (1991-10-01), S. 191-194
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A phyiscal characterization of dynamically stressed CMOS transistors
    G. Dalla Libera ; Bergonzoni, C.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 15 (1991-10-01), S. 453-456
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CdS Thin Film Transistor for Inverter and Operational Amplifier Circuit Applications
    Pieper, Ronald J. ; Mejia, Israel ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 157 (2016-05-01), S. 64-70
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Electrical behavior of the Diamond layout style for MOSFETs in X-rays ionizing radiation environments
    Salvador Pinillos Gimenez ; Daniel Manha Alati
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 148 (2015-12-01), S. 85-90
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An ultra-low power amplifier for wearable and implantable electronic devices
    Yazdchi, Mohammadreza ; Fatemeh Karami Horestani ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 216 (2019-08-01), S. 111054-111054
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Ultimate nano-electronics: New materials and device concepts for scaling nano-electronics beyond the Si roadmap
    Veloso, Anabela ; Alian, A. ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 132 (2015), S. 218-225
    Online unknown
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xxl 1366 -