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- essais, mesure, bruit et fiabilite 1 Treffer
- semiconductor electronics. microelectronics. optoelectronics. solid state devices 1 Treffer
- testing, measurement, noise and reliability 1 Treffer
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In: Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis IV (Santa Clara CA, 23-24 September 1998), 1998, S. 225-228KonferenzZugriff:
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In: Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis IV (Santa Clara CA, 23-24 September 1998), 1998, S. 64-73KonferenzZugriff: