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    PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits
    VIJAY KUMAR, SHARMA ; PATTANAIK, Manisha ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 90-99
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Passivation issues in active pixel CMOS image sensors
    REGOLINI, J. L ; BENOIT, D ; et al.
    In: 14TH Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006), Jg. 47 (2007), Heft 4-5, S. 739-742
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Implementation of plug-and-play ESD protection in 5.5 GHz 90 nm RF CMOS LNAs : Concepts, constraints and solutions
    THIJS, S ; NATARAJAN, M. I ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 5-6, S. 702-712
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Engineering buried oxide in dopant-segregated Schottky barrier SOI MOSFET for nanoscale CMOS circuits
    PATIL, Ganesh C ; QURESHI, S
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design and simulation of hybrid CMOS―SET circuits
    JANA, Anindya ; BASANTA SINGH, N ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 4, S. 592-599
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A new approach to the modeling of oxide breakdown on CMOS circuits
    FERNANDEZ, R ; RODRIGUEZ, R ; et al.
    In: Reliability of electron devices, failure physics and analysis, Jg. 44 (2004), Heft 9-11, S. 1519-1522
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Characteristics of random telegraph signal noise in time delay integration CMOS image sensor
    HAN, LIQIANG ; YAO, SUYING ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 400-404
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Process variation aware dual-Vth assignment technique for low power nanoscale CMOS design
    MANDE, Sudhakar S ; CHANDORKAR, Saurabh A ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2357-2365
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Design to suppress return-back leakage current of charge pump circuit in low-voltage CMOS process
    WENG, Yi-Hsin ; TSAI, Hui-Wen ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 5, S. 871-878
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Generating sub-1V reference voltages from a resistorless CMOS bandgap reference circuit by using a piecewise curvature temperature compensation technique
    TAM, Wing-Shan ; WONG, Oi-Ying ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 50 (2010), Heft 8, S. 1054-1061
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Integrated CMOS GSM baseband channel selecting filters realized using switched capacitor finite impulse response technique
    DABROWSKI, A ; DLUGOSZ, R ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 5-6, S. 949-958
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Electrostatic discharge protection scheme without leakage current path for CMOS IC operating in power-down-mode condition on a system board
    LIN, Kun-Hsien ; KER, Ming-Dou
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 2-4, S. 301-310
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Design of a novel chip on glass package solution for CMOS image sensor device
    CHEN, Ching-Yang ; CHAO, Yung-Ching ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 8, S. 1326-1334
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Evaluation of RF electrostatic discharge (ESD) protection in 0.18-μm CMOS technology
    XIAOYANG, DU ; SHURONG, DONG ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 48 (2008), Heft 7, S. 995-999
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Impact of gate-leakage currents on CMOS circuit performance
    MARRAS, Alessandro ; DE MUNARI, Ilaria ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 3-4, S. 499-506
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    ESD-RF co-design methodology for the state of the art RF-CMOS blocks
    VASSILEV, V ; THIJS, S ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 45 (2005), Heft 2, S. 255-268
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range
    FERNANDEZ-GARCIA, R ; KACZER, B ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 49 (2009), Heft 8, S. 885-891
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Failure analysis and solutions to overcome latchup failure event of a power controller IC in bulk CMOS technology
    CHEN, Shih-Hung ; KER, Ming-Dou
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 46 (2006), Heft 7, S. 1042-1049
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Modeling the sensitivity of CMOS circuits to radiation induced single event transients
    WIRTH, Gilson I ; VIEIRA, Michele G ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 48 (2008), Heft 1, S. 29-36
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Reliable CMOS adaptive equalizer for short-haul optical networks
    GIMENO, Cecilia ; GUERRERO, Erick ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 110-118
    academicJournal
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