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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 6-7, S. 1090-1095academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 49 (2009), Heft 7, S. 699-706academicJournalZugriff: