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    RF CMOS body-effect circuits
    THIERRY, Taris ; JEAN-BAPTISTE, Begueret ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1251-1260
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Reducing average and peak temperatures of VLSI CMOS circuits by means of evolutionary algorithm applied to high level synthesis
    KOZIEL, Slawomir ; SZCZESNIAK, Wladyslaw
    In: Therminic '02, Jg. 34 (2003), Heft 12, S. 1167-1174
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Power analysis and design of wide dynamic range CMOS imaging sensors
    JIE, YUAN ; HO YEUNG, CHAN
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 9, S. 585-593
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Single Event crosstalk shielding for CMOS logic
    SAYIL, Selahattin ; AKKUR, Abhishek B ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 1000-1006
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Adaptive CMOS analog circuits for 4G mobile terminals-Review and state-of-the-art survey
    DE LA ROSA, José M ; CASTRO-LOPEZ, Rafael ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 1, S. 156-176
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS low noise amplifier with integrated front-side micromachined inductor
    BEN YISHAY, Roee ; STOLYAROVA, Sara ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 5, S. 754-757
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Voltage optimization for simultaneous energy efficiency and temperature variation resilience in CMOS circuits
    KUMAR, Ranjith ; KURSUN, Volkan
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 4-5, S. 583-594
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    De-embedding method for on-wafer RF CMOS inductor measurements
    DRAKAKI, Maria ; HATZOPOULOS, Alkis A ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 958-965
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Impact of technology scaling and process variations on RF CMOS devices
    HASSAN, Hassan ; ANIS, Mohab ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 4, S. 275-282
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A new compensation mechanism for environmental parameter fluctuations in CMOS digital ICs
    ANDRADE, D ; MARTORELL, F ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 952-957
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design and modelling of a multi-standard fractional PLL in CMOS/SOI technology
    JACQUEMOD, Gilles ; GEYNET, Lionel ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 9, S. 1130-1139
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Fault detection in CMOS/SOI mixed-signal circuits using the quiescent current test
    DE VENUTO, D ; KAYAL, M ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 33 (2002), Heft 5-6, S. 387-397
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Body ballast resistor enhances ESD robustness of deep sub-micron CMOS circuit
    JAM WEM, LEE ; JIN LIAN, SUB ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 35 (2004), Heft 9, S. 783-788
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A low power CMOS compatible embedded EEPROM for passive RFID tag
    LEE, Kyoung-Su ; CHUN, Jung-Hoon ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 10, S. 662-668
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Review of fuse and antifuse solutions for advanced standard CMOS technologies
    EBRARD, Elodie ; ALLARD, Bruno ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 12, S. 1755-1765
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Performance comparison of CNFET- and CMOS-based 6T SRAM cell in deep submicron
    KURESHI, A. K ; HASAN, Mohd
    In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 979-982
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    High-speed autozeroed CMOS comparator for multistep A/D conversion
    BRIANTI, F ; MANSTRETTA, A ; et al.
    In: ECCOMAS 96 Symposium on Modelling and Simulation of Microdevices and Microsystems, Jg. 29 (1998), Heft 11, S. 845-853
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Crosstalk analysis for a CMOS gate driven inductively and capacitively coupled interconnects
    KAUSHIK, B. K ; SARKAR, S
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1834-1842
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A 0.5 V 320 MHz 8 bit x 8 bit pipelined multiplier in 130 nm CMOS process
    YANG, Wei-Bin ; LIAO, Chao-Cheng ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 1, S. 43-51
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CMOS temperature sensor with ring oscillator for mobile DRAM self-refresh control
    KIM, Chan-Kyung ; LEE, Jae-Goo ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 10-11, S. 1042-1049
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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