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    A 68-nW novel CMOS sub-bandgap voltage reference circuit
    Wang, Zhen ; Lei, Jianming ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 89 (2019-07-01), S. 37-40
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    Static noise margin trade-offs for 6T-SRAM cell sizing in 28 nm UTBB FD-SOI CMOS technology
    Olivera, Fabian ; Petraglia, Antonio
    In: Microelectronics Journal, Jg. 78 (2018-08-01), S. 94-100
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    5-Gb/s linear re-driver in 180 nm CMOS technology
    Margala, Martin ; Comer, Rod J. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 82 (2018-12-01), S. 81-91
    Online unknown
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    An ultra-low power multiplier using multi-valued adiabatic logic in 65 nm CMOS process
    Yuejun, Zhang ; Pengjun, Wang ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 78 (2018-08-01), S. 26-34
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    An output node split CMOS logic for high-performance and large capacitive-load driving scenarios
    Rafiee, Maliheh ; Mohammad Bagher Ghaznavi-Ghoushchi
    In: Microelectronics Journal, Jg. 72 (2018-02-01), S. 109-119
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    Investigation of negative DIBL effect for ferroelectric-based FETs to improve MOSFETs and CMOS circuits
    Li, Yangyang ; Wu, Zhenhua ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105110-105110
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    Analysis and modeling of the semi-floating transistor based 1T pixel in CMOS image sensors
    Gao, Jing ; Li, Yi ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 69 (2017-11-01), S. 20-27
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    A bulk-driven differential CMOS schmitt trigger with adjustable hysteresis for ultra-low-voltage operation
    Amiri, Parviz ; Nejati, Ali ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105129-105129
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    Quantification of the likelihood of single event multiple transients in logic circuits in bulk CMOS technology
    Desai, Madhav P. ; Rao, Nanditha P.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 72 (2018-02-01), S. 86-99
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    Development of a simulator for analyzing some performance parameters of nanoscale strained silicon MOSFET-based CMOS inverters
    Das, Mukul K. ; Kumari, Amrita ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 55 (2016-09-01), S. 8-18
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    Total dose radiation effects of hybrid bulk/SOI CMOS active pixel with buried channel SOI source follower
    Yang, Xiao-liang ; Du, Bin ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014-04-01), S. 477-481
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    An accurate model for dynamic crosstalk analysis of CMOS gate driven on-chip interconnects using FDTD method
    Brajesh Kumar Kaushik ; Patnaik, Amalendu ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014-04-01), S. 441-448
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    Design of self-bias tail transistor technique for low phase noise CMOS VCO with harmonic suppression using capacitance ground
    Hsu, Yu-Tuan ; Li, Wei-Jhih ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014), S. 35-42
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    Reconfigurable CMOS with undoped silicon nanowire midgap Schottky-barrier FETs
    Krauss, Tillmann ; Schwalke, Udo ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 44 (2013-12-01), S. 1072-1076
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    A single-input dual-output 13.56MHz CMOS AC–DC converter with comparator-driven rectifiers for implantable devices
    Je, Minkyu ; Cha, Hyouk-Kyu
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014-03-01), S. 277-281
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    Low-power CMOS LC QVCO using zero-biased transistor coupling of MWCNT network-based VCO structure
    Sreeja, B. S.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 45 (2014-02-01), S. 196-204
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    LSI implementation of a low-power 4×4-bit array two-phase clocked adiabatic static CMOS logic multiplier
    Sekine, Toshikazu ; Nazrul Anuar Nayan ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 43 (2012-04-01), S. 244-249
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    High speed SOI CMOS image sensor with pinned photodiode on handle wafer
    Cho, Yong-Soo ; Sawada, Kazuaki ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 38 (2007), S. 102-107
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    Impact of gate-oxide tunneling on mixed-signal design and simulation of a nano-CMOS VCO
    Mohanty, Saraju P. ; Kougianos, Elias
    In: Microelectronics Journal, Jg. 40 (2009), S. 95-103
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    CMOS WTA maximum and minimum circuits with their applications to analog switch and rectifiers
    Prommee, Pipat ; Chattrakun, Kittikhun
    In: Microelectronics Journal, Jg. 42 (2011), S. 52-62
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