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    LCC — The implications on internal data collection
    Darch, M.B.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 17 (1978), Heft 1, S. 25-29
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    LCC versus confidence testing during long-term storage: George Kasouf. 1981 Proceedings Annual Reliability and Maintainability Symposium, Philadelphia, Pennsylvania, p. 101 (27–29 January 1981)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 22 (1982), Heft 1, S. 133-133
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Preparation for LCC proposals and contracts: Blaine A. Schmidt. Proc. IEEE Reliab. Symp. p. 62, Washington, D.C. (23–25 January 1979)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 20 (1980), Heft 4, S. 540-540
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A computerized LCC/ORLA methodology: J. T. Henderson, P.E., Proc. IEEE Reliab. Symp. p. 51, Washington, D.C. (23–25 January 1979)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 20 (1980), Heft 4, S. 539-539
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Improved R, M, and LCC for switching power supplies: D. Monteith and W. Shaw. Proc. IEEE Reliability Symposium, Washington D.C., January 23–25, p. 262 (1979)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 20 (1980), Heft 5, S. 756-756
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Determining heat sink requirements for ceramic LCCs : Ned Corman and David Sinisi. Semiconductor Int., 127 (April 1987)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 27 (1987), Heft 6, S. 1036-1036
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of die attach failure modes in leadless chip carrier (LCC) packages by auger electron spectroscopy : Ronald E. Pyle and H. Adam Stevens. Proc. IEEE Reliab. Phys. Conf. 175 (1984)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 25 (1985), Heft 3, S. 582-582
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Effects on LCC of test equipment standardization : Harry Rosenberg and James H. Witt. Proc. A. Reliability and Maintainability Symposium, Nevada. U.S.A. p. 287 (20–22 Jan. 1976)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 15 (1976), Heft 6, S. 524-524
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    LCC—The implications on internal data collection : M. B. Darch. Microelectron. Reliab.17, 25 (1978)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 17 (1978), Heft 6, S. 562-562
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    LCC—Commercial Application. Ten years of life cycle costing : Donald R. Earles.Proc. Reliability and Maintainability Symposium. 28–30 January 1975. Washington D.C. p. 74
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 15 (1976), Heft 1, S. 18-18
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Accurate LCC estimating early in program development : M. B. Goldman and R. W. Tipton. Proc. 1974 Reliability and Maintainability Symposium, U.S.A. 256 (29–31 Jan. 1974)
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 13 (1974), Heft 4, S. 243-244
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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lg 992 - 1200
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