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In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006), Heft 7, S. 1214-1215reviewZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 44 (2004), Heft 12, S. 2033-2034reviewZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 44 (2004), Heft 12, S. 2029-2030reviewZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006-07-01), Heft 7, S. 1214-1215reviewZugriff: