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    Low cost fault tolerance against k c -cycle and k m -unit transient for loop based control data flow graphs during physically aware high level synthesis
    Kachave, Deepak ; Sengupta, Anirban
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 74 (2017-07-01), S. 88-99
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Integrating physical level design and high level synthesis for simultaneous multi-cycle transient and multiple transient fault resiliency of application specific datapath processors
    Sengupta, Anirban ; Kachave, Deepak
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 60 (2016-05-01), S. 141-152
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Self-repairing radix-2 signed-digit adder with multiple error detection, correction, and fault localization
    Hashmi, Adnan ; Lee, Jeong-A ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 63 (2016-08-01), S. 256-266
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -