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    Monitoring of thermo-mechanical stress via CMOS sensor array: Effects of warpage and tilt in flip chip thermo-compression bonding
    Laor, Ari ; Mayer, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 60-68
    Online unknown
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    Potentiality of healing techniques in hot-carrier damaged 28 nm FDSOI CMOS nodes
    Cacho, Florian ; Federspiel, Xavier ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 64 (2016-09-01), S. 163-167
    Online unknown
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    Temperature dependent Young's modulus and quality factor of CMOS-MEMS resonator: Modelling and experimental approach
    Ashraf, Khalid ; Mohammad Tariq Jan ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 57 (2016-02-01), S. 64-70
    Online unknown
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    The transient analysis of latch-up in CMOS transmission gate induced by laser
    Xu, Zhongjie ; Qiu, Weicheng ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014-12-01), S. 2775-2781
    Online unknown
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    Design of a fully CMOS compatible 3-μm size color pixel
    Langfelder, Giacomo
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-02-01), S. 169-173
    Online unknown
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    Barrier layer thickness analysis for reliable copper plug process in CMOS technology
    Sanjeev Kumar Manhas ; Singh, Navab ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 51 (2011-08-01), S. 1365-1371
    Online unknown
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    Device simulation studies on latch-up effects in CMOS inverters induced by microwave pulse
    Du, Zhengwei ; Chen, Jie
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 53 (2013-03-01), S. 371-378
    Online unknown
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    Passivation issues in active pixel CMOS image sensors
    Regolini, Jorge ; Benoit, Daniel ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-04-01), S. 739-742
    Online unknown
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    Impact and damage on deep sub-micron CMOS technology induced by substrate current due to ESD stress
    Vallet, Michel ; Beltritti, J. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 49 (2009-09-01), S. 1107-1110
    Online unknown
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    Impact of wafer charging on hot carrier reliability and optimization of latent damage detection methodology in advanced CMOS technologies
    Gomri, S. ; Moragues, J. M. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005-03-01), S. 487-492
    Online unknown
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    Optimization of HfSiON using a design of experiment (DOE) approach on 0.45V Vt Ni-FUSI CMOS transistors
    Verbeeck, Rita ; Date, L. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-04-01), S. 521-524
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Influence and model of gate oxide breakdown on CMOS inverters
    Stathis, James H. ; Linder, Barry P. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003-09-01), S. 1439-1444
    Online unknown
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    Total dose response studies of n-channel SOI MOSFETs for low power CMOS circuits
    Srivastava, A.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 40 (2000-12-01), S. 2111-2115
    Online unknown
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    Systematic derivation of latchup design rules for submicron CMOS processes from test structures
    J.A. van der Pol ; Wolbert, P.B.M.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 38 (1998-06-01), S. 1051-1056
    Online unknown
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    Building in reliability with latch-up, ESD and hot carrier effects on 0.25μm CMOS technology
    Bonis, M. ; Guegan, G ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 38 (1998-10-01), S. 1547-1552
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Investigation of stress induced leakage current in CMOS structures with ultra-thin gate dielectrics
    Barla, K. ; Jahan, C. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 37 (1997-10-01), S. 1529-1532
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Variations in performance degradation of CMOS NAND gates due to ionizing radiation
    Meniconi, M. ; Barry, D.M. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 37 (1997-06-01), S. 875-878
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An investigation of hot carrier effects in submicron CMOS integrated circuits
    Rakkhit, Rajat ; Fang, Peng ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 33 (1993-09-01), S. 1713-1727
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    Dynamic hot carrier degradation effects in CMOS submicron transistors
    Bergonzoni, C. ; Benecchi, R. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 32 (1992-11-01), S. 1515-1519
    Online unknown
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    Analysis of d.c. and a.c. anomalous latch-up effects in commercial CMOS integrated circuits
    Pavan, Paolo ; Bonati, B. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 31 (1991), S. 249-254
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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