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    Reliability assessment of CMOS differential cross-coupled LC oscillators and a novel on chip self-healing approach against aging phenomena
    I. Faik Baskaya ; Afacan, Engin ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014-02-01), S. 397-403
    Online unknown
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    Impact of single-defects on the variability of CMOS inverter circuits
    Enichlmair, Hubert ; Waltl, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 126 (2021-11-01), S. 114275-114275
    Online unknown
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    Challenges and opportunity in performance, variability and reliability in sub-45nm CMOS technologies
    Boeuf, Frederic ; Arnaud, Franck ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 51 (2011-09-01), S. 1508-1514
    Online unknown
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    Second-layer polysilicon structures for gate end-around leakage-current compensation in bulk CMOS ICs
    Andrew S Lambley ; Gary K Lum ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 40 (2000-06-01), S. 955-963
    Online unknown
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    A method of threshold voltage and current gain factor estimation for CMOS IC input transistors
    Pidin, S.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 33 (1993-10-01), S. 2047-2052
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    Induced damages on CMOS and bipolar integrated structures under focused ion beam irradiation
    Danto, Yves ; Desplats, Romain ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 38 (1998-06-01), S. 901-905
    Online unknown
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    Reliability issues in 650V high voltage bipolar-CMOS-DMOS integrated circuits
    Rongen, R.T.H. ; Jacob A. van der Pol ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 37 (1997-10-01), S. 1723-1726
    Online unknown
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    Soft error hardened voltage bootstrapped Schmitt trigger design for reliable circuits
    Santosh Kumar Vishvakarma ; Rana Sagar Kumar ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 117 (2021-02-01), S. 114013-114013
    Online unknown
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    Hot-carrier-injection resilient RF power amplifier using adaptive bias
    Palumbo, Felix ; Aguirre, Fernando L. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 114 (2020-11-01), S. 113912-113912
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    A new model of subthreshold swing for sub-100nm MOSFETs
    Yang, Lin-An ; Hao, Yue ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 48 (2008-03-01), S. 342-347
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    Instabilities in MOS transistors
    Stojadinovic, Ninoslav ; Dimitrijev, Sima
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 29 (1989), S. 371-380
    Online unknown
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    Shoot-through protection for an inverter consisting of the next-generation IGBTs with gate impedance reduction
    Tsukuda, Masanori ; Hasegawa, Kazunori ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 114 (2020-11-01), S. 113765-113765
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Impact of NBTI induced variations on delay locked loop multi-phase clock generator
    Sriram, S. R. ; Bindu, B.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 60 (2016-05-01), S. 33-40
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    BTI reliability of ultra-thin EOT MOSFETs for sub-threshold logic
    Groeseneken, Guido ; Graziano, Salvatore ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-09-01), S. 1932-1935
    Online unknown
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    Study of nanocrystal memory integration in a Flash-like NOR device
    Ancarani, V. ; Mello, D. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-04-01), S. 593-597
    Online unknown
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