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In: Microelectronics Reliability, Jg. 60 (2016-05-01), S. 10-15academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 151 (2023-12-01), S. N.PAGacademicJournalZugriff:
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In: Microelectronics Reliability, Jg. 129 (2022-02-01), S. N.PAGacademicJournalZugriff: