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    Multiple stuck-at faults detection in CMOS combinational gates
    Buonanno, G. ; Lombardi, F. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 32 (1991), Heft 1, S. 775-782
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS implementation of the ESA/390 mainframe architecture
    Roethe, Nicholas ; Wille, Udo
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 32 (1991), Heft 1, S. 209-214
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Multiple input transitions in CMOS gates
    Melcher, Elmar ; Röthig, Wolfgang ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 35 (1992), Heft 1, S. 683-690
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    CMOS transistor faults and bridging faults: Testability by delay effects and overcurrents
    Hübner, U. ; Meyer, W. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 35 (1992), Heft 1, S. 377-382
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    An investigation of binary CLA and ripple CMOS adder designs
    Chang, Chuan-Jen ; Vassiliadis, Stamatis ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 40 (1994), Heft 1, S. 1-21
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Testability enhancement using physical design rules in a CMOS cell library
    Blom, F.C. ; Oliver, J. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 39 (1993), Heft 2, S. 245-248
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Fault behavior and testability of asynchronous CMOS circuits
    Vierhaus, H.T. ; Meyer, W. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 38 (1993), Heft 1, S. 223-228
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    CMOS interconnect modelling for timing analysis
    Kress, Rainer ; Melcher, Elmar ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 37 (1993), Heft 1, S. 7-10
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Testability of non-trivial CMOS faults under realistic conditions
    Vierhaus, H.T.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 27 (1989), Heft 1, S. 681-686
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A fault tolerant oriented CMOS systolic implementation of an FIR filter
    Aranci, G.L. ; Binda, C.A. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 25 (1989), Heft 1, S. 97-105
    academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    CMOS layout generation for improved testability
    Stern, Olaf ; Vierhaus, H.T.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 30 (1990), Heft 1, S. 509-512
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    CMOS fault modeling, test generation and design for testability
    Matthäus, C ; Krüger-Sprengel, B ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 24 (1988), Heft 1, S. 233-238
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Verification and validation of hierarchical CMOS gate array layouts
    Payer, Michael
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 21 (1987), Heft 1, S. 445-452
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A design methodology of microprogrammed controllers for custom CMOS IC's
    Piguet, C ; Dijkstra, E ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 21 (1987), Heft 1, S. 463-470
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    CMOS stuck-open self-test for an optimal-time VLSI-multiplier: (Extended abstract)
    Becker, Bernd ; Soukup, Holger
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 20 (1987), Heft 1, S. 153-157
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fast and dense embedded arrays for microprocessors in CMOS-technology
    Clemen, R. ; Eisenbraun, E. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 18 (1986), Heft 1, S. 441-444
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    MOD/R : A knowledge assisted approach towards top-down only CMOS VLSI design
    Spaanenburg, L. ; Beunder, M. ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 16 (1985), Heft 2, S. 83-88
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An algorithm for asynchronous NMOS/CMOS network analysis in a CAD tool for physical fault simulation
    Melgara, M ; Paolini, M ; et al.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 14 (1984), Heft 3, S. 117-123
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Session C1: CMOS implementation of the IBM ESA/390
    Roethe, N.
    In: Microprocessing and Microprogramming, Jg. 32 (1991), Heft 1, S. 207-207
    Biografie
    Wie komme ich dran?
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