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    Growth of Cuinse2 on (lOO) Gaas by Molecular Beam Epitaxy
    Tseng, Bae-Heng ; Lin, Song-Bin
    In: MRS Proceedings, Jg. 317 (1993)
    Online unknown
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    Intelligent Automated Cure Processing of Polyimides
    Hart, Sean M. ; Loos, Al ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 305 (1993)
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Seedless Templated Growth of Hetero-Nanostructures for Novel Microelectronics Devices
    Vereecken, Philippe M. ; Iacopi, Francesca ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 1178 (2009)
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Improving Polymer Based Photovoltaic Devices by Reducing the Voltage Loss at the Donor-Acceptor Interface
    Moet, D.J.D. ; Slooff, L.H. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 974 (2006)
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    (Selective) Epitaxial Growth of Strained Si to Fabricate Low Cost and High Performance CMOS Devices
    Meunier-Beillard, Philippe ; Caymax, Matty ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 809 (2004)
    Online unknown
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    Analysis of junctions formed in strained Si/SiGe substrates
    Vandervorst, W. ; Meunier-Beillard, Philippe ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 809 (2004)
    Online unknown
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    Thermoelectric Properties of the cubic AgPb10SbTe12
    Kanatzidis, Mercouri G. ; Loo, Sim ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 793 (2003)
    Online unknown
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    IC Component Level Failure Induced By Intermetallic Layer Structural Defects of Solder Joint
    Sun, Ming ; Zhao, Lily ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 753 (2002)
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Nanoscale Organic Electronic Devices Formed by Lamination With Stamps
    Baldwin, Kirk W. ; Rogers, John A. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 761 (2002)
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Ge Island evolution during growth, in-situ anneal, and Si capping in an industrial CVD reactor
    Meunier-Beillard, Philippe ; Caymax, Matty ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 664 (2001)
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Characterization of New Materials in A Four-Sample Thermoelectric Measurement System
    Stephan de Nardi ; Loo, Sim ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 626 (2000)
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Comparative Growth Kinetics Of Sige In A Commercial Reduced Pressure Chemical Vapour Deposition Epi Reactor And Anomalies During Growth of Thin Si Layers on Sige
    Caymax, Matity ; Nakajima, Kaoru ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 533 (1998)
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Arc Suppression and Defect Reduction in Semiconductor Metallization
    Li, Xiangbing ; Stimson, Brad ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 510 (1998)
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fabrication of YBa2Cu37/Ag Sputtered Multilayers
    Colino, J ; J L Vicent
    In: MRS Proceedings, Jg. 275 (1992)
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Surface Chemical Routes to Low Contamination Beam Assisted GaAs Etching
    Marshall, Duncan ; Jackman, Richard B.
    In: MRS Proceedings, Jg. 279 (1992)
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Growth and Stability of Strained-Layer Multiple Quantum Wells
    Shimada, Junichi ; Niki, Shigeru ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 240 (1991)
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    MBE Growth and Characterization of SxGe1−x Multilayer Structures on Si (100) for Use as a Substrate for GaAs Heteroepitaxy
    Humphreys, T. P. ; Timmons, M.L. ; et al.
    In: MRS Proceedings, Jg. 220 (1991)
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Process and Equipment Issues in Rapid Thermal Oxidation (RTO)
    Hodul, David T. ; Sandeep Mehta Sandeep Mehta
    In: MRS Proceedings, Jg. 92 (1987)
    Online unknown
    Zugriff:
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