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    Growth dynamics of SiGe nanowires by the vapour-liquid-solid method and its impact on SiGe/Si axial heterojunction abruptness
    Periwal, P. ; Baron, Thierry ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 29 (2018-06-06), Heft 35
    Online unknown
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    Order quantification of hexagonal periodic arrays fabricated by in situ solvent-assisted nanoimprint lithography of block copolymers
    Khunsin, Worawut ; Morris, Michael A. ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 25 (2014-04-12), Heft 17
    Online unknown
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    Post-growth engineering of InAs/GaAs quantum dots’ band-gap using proton implantation and annealing
    Morris, Denis ; Maaref, Hassen ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 17 (2006-06-27), S. 3707-3709
    Online unknown
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    Quantitative characterizations of a nanopatterned bonded wafer: force determination for nanoimprint lithography stamp removal
    Chaix, N. ; Landis, Stefan ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 19 (2011-08-06), Heft 12
    Online unknown
    Zugriff:
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    The effects of HCl on silicon nanowire growth: surface chlorination and existence of a 'diffusion-limited minimum diameter'
    Ferret, Pierre ; Gentile, Pascal ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 20 (2009-10-31), Heft 47
    Online unknown
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    An improved AFM cross-sectional method for piezoelectric nanostructures properties investigation: application to GaN nanowires
    Potié, A. ; Baron, Thierry ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 22 (2011-02-02), S. 105704-105704
    Online unknown
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    Inhomogeneous broadening and alloy intermixing in low proton dose implanted InAs/GaAs self-assembled quantum dots
    Maaref, Hassen ; Morris, Denis ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 19 (2008-06-03), S. 285715-285715
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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