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    Total dose irradiation effects of CMOS SRAM under different bias conditions
    Lu, J. ; Yu, X. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 35 (2012), Heft 8, S. 601-605
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Research on total dose irradiation and annealing effects of PDSOI CMOS SRAM
    Li, M. ; Yu, X. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 34 (2011), Heft 6, S. 452-456
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Future challenges in single event effects for advanced CMOS technologies
    Guo, H. ; Wang, W. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 33 (2010), Heft 7, S. 538-542
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    The compare of total-dose irradiation effects between CMOS 4000 and 54HC devices
    Wang, G. ; Yu, X. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 31 (2008), Heft 5, S. 348-351
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Statistical analysis of threshold voltage changes of CMOS devices before and after total dose irradiation
    Li, A. ; Yu, X. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 29 (2006), Heft 9, S. 665-669
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Influence of thickness of gate oxide layer on the irradiation response of CMOS op-amp
    Lu, W. ; Ren, D. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 28 (2005), Heft 3, S. 227-230
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    The total dose radiation responses of the F-implanted CMOS amplifiers
    Lu, W. ; Guo, Q. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 26 (2003), Heft 4, S. 291-294
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    The irradiation degeneration of AC characteristic of 54HCT244 high-speed CMOS circuits
    Erkin Yan, R. ; Yu, X. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 26 (2003), Heft 4, S. 287-290
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    The application of ADC and DAC CMOS chip used in the control system of the high precision stabilized power supply
    Dong, X. ; Zhao, T. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 25 (2002), Heft 4, S. 305-310
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Analyses of the CMOS op - amps damage in irradiation environment
    Lu, W. ; Guo, Q. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 25 (2002), Heft 3, S. 218-222
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Comparison on effects of CMOS devices irradiated by gamma and X rays
    He, C. ; Ba, W. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 24 (2001), Heft 10, S. 807-811
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A measurement system to detect the radiation damage inside CMOS operational amplifier
    Guo, Q. ; Lu, W. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 23 (2000), Heft 9, S. 637-641
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Radiation effects of ^6^0Co ̇rays, electrons and protons on CMOS operational amplifiers
    Lu, W. ; Ren, D. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 22 (1999), Heft 1, S. 47-51
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Effect of dose rate on radiation damage and annealing of high speed CMOS circuit
    Guo, Q. ; Lu, W. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 21 (1998), Heft 8, S. 503-506
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Radiation effects and recovering properties of CMOS operational amplifier LF7650 irradiated by 1 MeV electrons
    Lu, W. ; Guo, Q. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 20 (1997), Heft 12, S. 753-756
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Effects of total dose radiation on time characteristic of high-speed CMOS circuits
    Erkin ; Yu, X. ; et al.
    In: NUCLEAR TECHNIQUES, Jg. 26 (2003), Heft 11, S. 834-836
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -