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    Label-free detection and characterization of secondary microplastics from tea bags.
    Vijay, Aswathy ; Mohandas, Jagathpriya Lilly ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 63 (2024), Heft 1, S. 13101-13101
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of sparsity metrics for autofocusing in digital holographic microscopy.
    Fan, Xin ; Healy, John J. ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 56 (2017-05-01), Heft 5, S. 1-13
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Image plane digital holographic microscope for the inspection of ferroelectric single crystals.
    Psota, Pavel ; Mokrý, Pavel ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 55 (2016-12-01), Heft 12, S. 1-10
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Compensated, nonlinear weighted exponential average filtering for digital holography on rough surfaces.
    Brunn, Andreas
    In: Optical Engineering, Jg. 54 (2015-08-01), Heft 8, S. 1-12
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Total aberrations compensation for misalignment of telecentric arrangement in digital holographic microscopy.
    Liu, Yun ; Wang, Zhao ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 53 (2014-11-01), Heft 11, S. 1-8
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Review of digital holographic microscopy for three-dimensional profiling and tracking.
    Yu, Xiao ; Hong, Jisoo ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 53 (2014-11-01), Heft 11, S. 1-21
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Speckle noise reduction in coherent imaging systems via hybrid median–mean filter.
    Castaneda, Raul ; Garcia-Sucerquia, Jorge ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 60 (2021-12-01), Heft 12, S. 123107-123107
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Plane wave illumination for correct phase analysis and alternative phase unwrapping in dual-type (transmission and reflection) three-dimensional digital holographic microscopy.
    Kim, Moonseok ; Hong, Sukjoon ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 49 (2010-05-01), Heft 5, S. 55801-1- (7S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Lensless inline digital holography versus Fourier ptychography: phase estimation of a large transparent bead.
    Li, Hongyu ; Bozhok, Anastasia ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 59 (2020-08-01), Heft 8, S. 83104-83104
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Realistic modeling of digital holographic microscopy
    Garcia-Sucerquia, Jorge ; Buitrago-Duque, Carlos
    In: Optical Engineering, Jg. 59 (2020-04-02), S. 1-1
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Plane wave illumination for correct phase analysis and alternative phase unwrapping in dual-type (transmission and reflection) three-dimensional digital holographic microscopy.
    Kim, Moonseok ; Hong, Sukjoon ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 49 (2010-05-01), Heft 5, S. 055801-55801
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    All-in-one multifunctional optical microscope with a single holographic measurement.
    Liu, Cheng ; Yoon Sung Bae ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 47 (2008-08-01), Heft 8, S. 87001-87001
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    All-in-one multifunctional optical microscope with a single holographic measurement.
    Liu, Cheng ; Bae, Yoon Sung ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 47 (2008-08-01), Heft 8, S. 087001-87001
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Image plane digital holographic microscope for the inspection of ferroelectric single crystals
    Psota, Pavel ; Mokrý, Pavel ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 55 (2016-11-14), S. 121731-121731
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Compensated, nonlinear weighted exponential average filtering for digital holography on rough surfaces
    Brunn, Andreas
    In: Optical Engineering, Jg. 54 (2015-08-04), S. 084102-84102
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Review of digital holographic microscopy for three-dimensional profiling and tracking
    Liu, Changgeng ; Kim, Myung K. ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 53 (2014-04-03), S. 112306-112306
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Plane wave illumination for correct phase analysis and alternative phase unwrapping in dual-type (transmission and reflection) three-dimensional digital holographic microscopy
    Shin, Sang-hoon ; Kim, Jaisoon ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 49 (2010-05-01), S. 055801-55801
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    All-in-one multifunctional optical microscope with a single holographic measurement
    Yoon Sung Bae ; Liu, Cheng ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 47 (2008-08-01), S. 087001-87001
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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