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    Contact engineering for nano-scale CMOS
    Muhammad Mustafa Hussain ; Fahad, Hossain M. ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 209 (2012-09-10), S. 1954-1959
    Online unknown
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    UV-Radiation Annealing of the Electron- and X-Irradiation Damaged CMOS Transistors
    Pejović, Momčilo M. ; Dimitrijev, Sima ; et al.
    In: Physica Status Solidi (a), Jg. 129 (1992-02-16), S. 569-575
    Online unknown
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    On the Characteristics of CMOS Transistors in Thick SOI Films
    Richtek, H. H. ; Adam, A. ; et al.
    In: Physica Status Solidi (a), Jg. 112 (1989-04-16), S. 721-726
    Online unknown
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    Device Performance as a Metrology Tool to Detect Metals in Silicon
    Simoen, Eddy ; Claeys, Cor
    In: physica status solidi (a), Jg. 216 (2019-08-08), S. 1900126-1900126
    Online unknown
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    Chemical composition study of high-k La-silicate gate stacks at sub-nanometer scale
    Liu, Fude ; Duscher, Gerd ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 211 (2014-07-10), S. 2537-2540
    Online unknown
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    New non-volatile logic based on spin-MTJ
    Belhaire, Eric ; Zhao, Weisheng ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 205 (2008-06-01), S. 1373-1377
    Online unknown
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    Binary states in integrated circuits investigated by laser scanning microscopy with optical beam induced current
    Damm, T. ; Bergner, H.
    In: Physica Status Solidi (a), Jg. 115 (1989-10-16), S. 607-615
    Online unknown
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    Comparative performance analysis of silicon nanowire tunnel FETs and MOSFETs on plastic substrates in flexible logic circuit applications
    Joon Hyung Shim ; Jeon, Youngin ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 209 (2012-03-29), S. 1350-1358
    Online unknown
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    AlGaN/GaN high electron mobility transistors on Si with sputtered TiN gate
    Li, Y. ; Ng, G. I. ; et al.
    In: physica status solidi (a), Jg. 214 (2016-11-02), S. 1600555-1600555
    Online unknown
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