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    X-ray diffraction spot mapping - : a tool to study structural properties of semiconductor disk laser devices
    ZEIMER, U ; GRENZER, J ; et al.
    In: 8th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and imaging (XTOP 2006), Karlsruhe/Baden-Baden, Germany, 19-22 September 2006, Jg. 204 (2007), Heft 8, S. 2753-2759
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Structural changes in arsenic ion-implanted Hg1-xCdxTe epitaxial layers
    FODCHUK, I ; ZAPLITNYY, R ; et al.
    In: 8th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and imaging (XTOP 2006), Karlsruhe/Baden-Baden, Germany, 19-22 September 2006, Jg. 204 (2007), Heft 8, S. 2714-2720
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Raman studies of ZnO:Co thin films
    HUIJUAN, ZHOU ; LIMEI, CHEN ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 204 (2007), Heft 1, S. 112-117
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Local control of SiC polytypes
    PEZOLDT, J ; MORALES, F. M ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 204 (2007), Heft 4, S. 1056-1062
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Wafering of silicon crystals
    MÖLLER, H. J
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 203 (2006), Heft 4, S. 659-669
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Surface potential of chalcopyrite films measured by KPFM
    SADEWASSER, S
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 203 (2006), Heft 11, S. 2571-2580
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Interface of atomic layer deposited Al2O3 on H-terminated silicon
    GAO, K. Y ; SPECK, F ; et al.
    In: Interfacial processes and properties of advanced materials, Jg. 203 (2006), Heft 9, S. 2194-2199
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Influence of enhanced temperature and pressure on structural transformations in pre-annealed Cz-Si
    CIOSEK, Jerzy ; MISIUK, Andrzej ; et al.
    In: Interfacial processes and properties of advanced materials, Jg. 203 (2006), Heft 9, S. 2254-2259
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Bulk and surface-enhanced Raman spectroscopy of nitrogen-doped ultrananocrystalline diamond films
    VLASOV, I. I ; RALCHENKO, V. G ; et al.
    In: Papers presented at the 11th International Workshop on Surface and Bulk Defects in CVD Diamond Films (SBBD XI), Diepenbeek-Hasselt, Belgium, 22-24 February, Jg. 203 (2006), Heft 12, S. 3028-3035
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    X-ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high-energy electron irradiation : High-resolution X-ray Diffraction and Imaging
    MOLODKIN, V. B ; OLIKHOVSKII, S. I ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 11, S. 2552-2557
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Temperature-dependent grain growth and phase transformation in mixed anatase-rutile nanocrystalline TiO2 films
    GNASER, Hubert ; LÖSCH, Jörg ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 7, S. 1635-1640
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Structure and electronic properties of trivacancy and trivacancy-oxygen complexes in silicon
    MARKEVICH, V. P ; PEAKER, A. R ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 3, S. 568-571
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Real-time X-ray diffraction imaging for semiconductor wafer metrology and high temperature in situ experiments : High-resolution X-ray Diffraction and Imaging
    DANILEWSKY, A. N ; WITTGE, J ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 11, S. 2499-2504
    academicJournal
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    Grain boundary electrochemistry of β-type Nb-Ti alloy using a scanning droplet cell : Engineering of Functional Interfaces
    TEKA WOLDEMEDHIN, Michael ; RAABE, Dierk ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 6, S. 1246-1251
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dynamical X-ray diffractometry of the defect structure of garnet crystals : High-resolution X-ray Diffraction and Imaging
    PYLYPIV, V. M ; VLADIMIROVA, T. P ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 11, S. 2558-2562
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Development and optimization of scanning spreading resistance microscopy for measuring the two-dimensional carrier profile in solar cell structures
    EYBEN, Pierre ; SEIDEL, Felix ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 3, S. 596-599
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Determination of structural inhomogeneity of synthesized diamonds by backscattering electron diffraction : High-resolution X-ray Diffraction and Imaging
    FODCHUK, I ; BALOVSYAK, S ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 11, S. 2591-2596
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    MicroRaman studies of implantation- applications and materials induced amorphization of Si and subsequent regrowth under high-pressure and high-temperature treatment
    AZHNIUK, Yu. M ; SCHÄFER, P ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 207 (2010), Heft 11, S. 2432-2436
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    MBE growth of cubic AIN on 3C-SiC substrate
    SCHUPP, Thorsten ; ROSSBACH, Georg ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 207 (2010), Heft 6, S. 1365-1368
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Cobalt-doped ZnO prepared by electrochemistry: Chemistry, morphology, and magnetism
    MATEI, Elena ; ENCULESCU, Ionut ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 207 (2010), Heft 11, S. 2517-2522
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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