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    Study of the oxygen incorporation and structure in the low pressure sputtered YBCO films
    CHAUDHARY, Sujeet ; PANDYA, D. K ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 114-118
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    High-quality ZnO films prepared on Si wafers by low-pressure MO-CVD
    HAGA, K ; SUZUKI, T ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 131-134
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low-energy particle treatment of GaAs surface
    PINCIK, E ; JERGEL, M ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 108-113
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Interaction of amorphous Si and crystalline Al thin films during low-temperature annealing in vacuum
    ZHAO, Y. H ; WANG, J. Y ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 82-87
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Monte Carlo simulation of current-voltage characteristics in metal-insulator-metal thin film structures
    GRAVANO, S ; AMR, E ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 321-325
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Friction and wear properties of C-N/MeNx nanolayer composites
    SOBOTA, J ; BOCHNICEK, Z ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 155-159
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electronic properties of PLD prepared nitrogenated a-SiC thin films
    BARRECA, Francesco ; FAZIO, Enza ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 34-38
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Study of the superconducting MgB2 films by ion beam analysis methods
    ANDRADE, E ; CHROMIK, S ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 103-107
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Ordered mono- and multilayer films of sexiphenyl on Al(111): a LEED investigation
    WINTER, B ; IVANCO, J ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 269-273
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Nanoscaled composite TiN/Cu multilayer thin films deposited by dual ion beam sputtering: growth and structural characterisation
    ABADIAS, G ; TSE, Y. Y ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 166-173
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Electrical conductivity and dynamics of electroforming in Al-SiOx-Al thin film sandwich structures
    GOULD, R. D ; LOPEZ, M. G
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 315-320
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Transient charging of copper phthalocyanine: model and experiment
    THURZO, I ; PHAM, G ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 292-297
    Konferenz
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    TiN/AlN bilayers and multilayers grown by magnetron co-sputtering
    AUGER, M. A ; SANCHEZ, O ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 211-216
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    The relation between the plasma characteristic and the corrosion properties of TiN/Ti multilayers deposited by unbalanced magnetron sputtering
    FLORES, M ; MUHL, S ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 217-223
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Study of cobalt silicides formation in Co/Ta-W/Si(100) multilayer systems
    MOSHFEGH, A. Z ; HASHEMIFAR, S. J ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 298-304
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Structural evolution of Fe-Al multilayers submitted to thermal annealing
    MENGUCCI, P ; MAJNI, G ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 205-210
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Pulsed laser deposition of Co- and Fe-based amorphous magnetic films and multilayers
    ACQUAVIVA, S ; CARICATO, A. P ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 252-258
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Properties of YBa2Cu3OX and Bi2Sr2CaCu2OX thin film microstrips patterned by argon ion beam
    ÖSZI, Zs ; BENACKA, S ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 359-362
    Konferenz
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    Effect of r.f. hydrogen plasma annealing on the properties of Si/SiO2 interface : a spectroscopic ellipsometry study
    PANEVA, A ; SZEKERES, A
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 367-370
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Determination of the interdiffusion coefficient for Si/Al multilayers by Auger electron spectroscopical sputter depth profiling
    WANG, J. Y ; ZALAR, A ; et al.
    In: Proceedings from the 12th International Conference on Thin Films, Bratislava, Slovakia, September 15-20, 2002, Jg. 433 (2003), Heft 1-2, S. 92-96
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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