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    Refinements to the use of the NML calculable capacitor in relation to SI ohm determinations
    Small, G.W.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 8-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Computations of the accuracy of VSM
    Hsu, Shau-Wei
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 38-39
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Iodine stabilized He-Ne laser at 633 nm with simple line-locking device and the intercomparison results
    Lu, Sheng-Hua ; Hsu, Ren-Huey ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 84-85
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Development of a portable optical frequency standard with a small calcium cell
    Yang, Wen-Ling ; Lan, Yu-Ping ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 88-89
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation of the AC quantized Hall resistance
    Wood, B.M. ; Inglis, A.D.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 153-154
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Improved Josephson array step selection methods
    Christian, L.A.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 228-229
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Determination of /spl Omega//sub VTT/ using the quantum Hall resistance
    Seppa, H. ; Satrapinski, A.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 252-253
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Intrinsic Josephson effects in high-T/sub c/ superconductors-implications for future voltage standards
    Johnson, H.L.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 243-244
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Fabrication of precision quantised Hall devices
    Inglis, A.D. ; Minowa, I.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 245-246
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The study of photon induced quantized current using an STM
    Ku, Y.S. ; Chuang, C.S. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 261-262
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Precision measurement of capacitance bridge ratios for standard transfer
    Ku, Y.S. ; Hsu, J.C.M. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 410-411
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Capacitance scaling system
    Aoki, T. ; Yokoi, K.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 386-387
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Precision resistor of reduced dynamic error
    Szepessy, Z.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 398-399
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    AC resistance bridge based on the cryogenic current comparator
    Seppa, H. ; Satrapinski, A.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 402-403
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    AC voltage ratio meter based on HTSC SQUID
    Karpov, O.V. ; Koutovoi, V.B. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 408-409
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Calibration of AC amplifiers
    Roman, Z.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 413-414
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An isothermal method for coaxial microcalorimeter
    Chi, Chie-Mien
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 454-455
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Radiated fields from unknown sources
    Lao, R.R. ; Chi, C.M. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 447-448
    Konferenz
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    Experimental progress towards new definition of the kilogram using scanning atomic probes and picometer laser metrology
    Pan, Sheau-shi ; Peng, Gwo-Sheng ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 474-475
    Konferenz
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    A micropotentiometer-based system for low-voltage calibration of alternating voltage measurement standards
    Budovsky, I.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 497-498
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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