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    In situ tensile tests in sem of sputtered CNx films deposited on Ti6Al4V substrate : effect of film thickness and plasma surface pretreatment
    VILLECHAISE, P ; MILHET, X ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 324-329
    Konferenz
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    Characterizations of CNx thin films made by ionized physical vapor deposition
    TETARD, F ; DJEMIA, P ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 192-196
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Nitrogen effect on the electrical properties of CNx thin films deposited by reactive magnetron sputtering
    DERRADJI, N. E ; MAHDJOUBI, M. L ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 258-263
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    An electrical, optical and electron paramagnetic resonance study of room temperature deposited CNx films on Si
    KONOFAOS, N ; DELIGIANNAKIS, Y ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 270-274
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Comparative study of the structure of a-CNx and a-CNx: H films using NEXAFS, XPS and FT-IR analysis
    BOUCHET-FABRE, B ; ZELLAMA, K ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 156-166
    Konferenz
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    Spectroscopic study using FTIR, Raman, XPS and NEXAFS of carbon nitride thin films deposited by RF magnetron sputtering
    BOUCHET-FABRE, B ; MARINO, E ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 167-171
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Nanomechanical and nanotribological properties of carbon based films
    CHARITIDIS, C ; LOGOTHETIDIS, S
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 120-125
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Microstructure and electronic investigations of carbon nitride films deposited by RF magnetron sputtering
    LAGRINI, A ; CHARVET, S ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 41-44
    Konferenz
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    Effects of energetic species during the growth of nitrogenated amorphous carbon thin films on their nanomechanical properties
    CHARITIDIS, C ; PATSALAS, P ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 177-182
    Konferenz
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    Chemical bonding modifications of tetrahedral amorphous carbon and nitrogenated tetrahedral amorphous carbon films induced by rapid thermal annealing
    MCCANN, R ; ROY, S. S ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis, Characterization and Advanced Applications of Amorphous Carbon Films, EMRS 2004 Conference, Strasbourg, Fran ce, 24-28 May, Jg. 482 (2005), Heft 1-2, S. 34-40
    Konferenz
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