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In: Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2004), 2004, S. 279-282KonferenzZugriff:
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In: Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2004), 2004, S. 315-318KonferenzZugriff: