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    On-chip device and circuit diagnostics on advanced technology nodes by nanoprobing
    Dawood, M. K. ; Ng, T. H. ; et al.
    In: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Structure and composition of the Cu/low k interconnects de-layered with FIB
    Wang, Dandan ; Tan, Pik Kee ; et al.
    In: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Study and mechanism of static scanning laser fault isolation on embed SRAM function fail
    Chen, Changqing ; Ng, Huipeng ; et al.
    In: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Experiments and results of Raman and FTIR complementary vibrational spectroscopy for IC reliability failure analysis
    Yamin, Huang ; Tan, Hao ; et al.
    In: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Defect localization enhancement using light induced CI-AFP
    Dayanand, N. ; Quah, A. C. T. ; et al.
    In: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Failure analysis methodology for the localization of thin and ultra-thin metal barrier residue
    Quah, A. C. T. ; Dayanand, N. ; et al.
    In: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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